[특허]Method and apparatus for detection of abnormal traces during electrochemical analyte detection

Agamatrix, Inc.

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Method and apparatus for detection of abnormal traces during electrochemical analyte detection

특허상세정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	C12M-001/00 C12Q-001/54
미국특허분류(USC)	204/403.01; 204/403.02; 204/400; 204/194; 205/777.5
출원번호	US-0907818 (2005-04-15)
등록번호	US-7344626 (2008-03-18)
발명자 / 주소	Harding,Ian Williams,Richard
출원인 / 주소	Agamatrix, Inc.
대리인 / 주소	Marina Larson & Associates, LLC
인용정보	피인용 횟수 : 116 인용 특허 : 10

초록
▼

Detection of abnormal signal traces in electrochemical measurements generated using an electrochemical test strip to which a potential is applied allows for an indication of an erroneous analyte determination. The current trace has an expected shape in which a peak current is observed a time tpeak after which there is a decrease in current. To detect abnormal signal traces, the time tpeak is determined experimentally and compared with an expected value, t'peak, and if the difference between the two values to over a predetermined threshold, an error messa...

대표
청구항
▼

What is claimed is: 1. A method for determination of an analyte in a sample comprising the steps of: (a) introducing the sample to an electrochemical test strip having working and counter electrodes; (b) applying a potential difference, Vapp, between the electrodes of the test strip and observing a current signal sufficient to provide a determination of analyte in the sample; (c) determining a time tpeak, said time occurring at a maximum in the current at the point of changeover when sufficient material is available at the counter electrode to balance the consumption of analyte at the working electrode; (d) switching off the applied potential at time tswitch (e) determining a time, tmob, wherein tmob is the time after the applied potential is switched off, that it takes for the potential between the electrodes to decay to a predetermined value, (f) calculating an expected value of tpeak, t'peak, where t'peak is a function of tmob, and (g) comparing the absolute value of tpeak-t'peak to a predetermined threshold value, rejecting the test if the absolute value of tpeak-t'peak is greater than the threshold value. 2. The method of claim 1, wherein t'peak is given by the equation: description="In-line Formulae" end="lead"t'peak=[k1��tmob ��CottrellSlopem]+[k2��tmob n]+[k3��tmobn ��CottrellSlopem]+k4 description="In-line Formulae" end="tail" where k1-k4 are empirically determined constants, and the CottrellSlope is the square root of the slope of 1/I2 versus t in the Cottrell decay region of the current curve, and n and m are experimental positive or negative integer or fractional numbers. 3. The method of claim 2, wherein n is �� and m is-1. 4. A meter for receiving an electrochemical test strip having working and counter electrodes and providing a determination of an analyte in a sample applied to the electrochemical test strip when received in the meter, said meter comprising (a) a housing having a slot for receiving an electrochemical test strip; (b) communications means for receiving input from and communicating a result to a user; and (c) means for applying a potential and to determine analyte concentration from an observed current, (d) means determining a time tpeak, said time occurring at a maximum in the current at the point of changeover when sufficient material is available at the counter electrode to balance the consumption of analyte at the working electrode; (e) means for switching off the applied potential at time tswitch, and determining a time, tmob, wherein tmob is the time after the applied potential is switched off, that it takes for the potential between the electrodes to decay to a pre-determined value, (f) means for calculating an expected value of tpeak, t'peak, where t'peak is a function of tmob, comparing the absolute value of tpeak-t'peak to a predetermined threshold value, and generating an error message if the absolute value of tpeak-t'peak is greater than the threshold value. 5. The meter of claim 4, wherein t'peak is given by the equation: description="In-line Formulae" end="lead"t'peak=[k1��tmob ��CottrellSlopem]+[k2��tmob n]+[k3��tmobn ��CottrellSlopem]+k4 description="In-line Formulae" end="tail" where k1-k4 are empirically determined constants, and the CottrellSlope is the square root of the slope of 1/I2 versus t in the Cottrell decay region of the current curve, and n and m are experimental positive or negative integer or fractional numbers. 6. The meter of claim 5, wherein n is �� and m is-1. 7. A measurement system comprising a meter in accordance with claim 4 and an electrochemical test strip received within the housing. 8. The measurement system of claim 7, wherein the electrochemical test strip is for measurement of glucose. 9. The measurement system of claim 8, wherein t'peak is given by the equation: description="In-line Formulae" end="lead"t'peak=[k1��tmob ��CottrellSlopem]+[k2��tmob n]+[k3��tmobn ��CottrellSlopem]+k4 description="In-line Formulae" end="tail" where k1-k4 are empirically determined constants, and the CottrellSlope is the square root of the slope of 1/I2 versus t in the Cottrell decay region of the current curve, and n and m are experimental positive or negative integer or fractional numbers. 10. The measurement system of claim 9, wherein n is �� and m is-1. 11. The measurement system of claim 7, wherein t'peak is given by the equation: description="In-line Formulae" end="lead"t'peak=[k1��tmob ��CottrellSlopem]+[k2��tmob n]+[k3��tmobn ��CottrellSlopem]+k4 description="In-line Formulae" end="tail" where k1-k4 are empirically determined constants, and the CottrellSlope is the square root of the slope of 1/I2 versus t in the Cottrell decay region of the current curve, and n and m are experimental positive or negative integer or fractional numbers. 12. The measurement system of claim 11, wherein n is �� and m is-1.

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