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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0440049 (2006-05-25) |
등록번호 | US-7353616 (2008-04-08) |
우선권정보 | JP-2005-153284(2005-05-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 10 |
A shape measuring instrument is provided as being capable of measuring a surface shape of a target with a small contact force while changing the contact force. A measuring probe 32 is supported while a tilt θ is provided. A retracting force of the measuring force 32 is produced by the tilt _
What is claimed is: 1. A shape measuring instrument, comprising: a measuring probe which comes into contact with a surface of a target; support member configured to support the measuring probe so that an axial direction of the measuring probe is tilted with respect to a horizontal direction and the
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