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특허 상세정보

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Modular probe card

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-001/073   
미국특허분류(USC) 324/757; 324/754
출원번호 US-0322408 (2006-01-03)
등록번호 US-7372286 (2008-05-13)
발명자 / 주소
  • Lee,Yi Chang
  • Liu,An Hong
  • Huang,Hsiang Ming
  • Lee,Yao Jung
  • Wang,Yeong Her
출원인 / 주소
  • ChipMOS Technologies (Bermuda) Ltd.
  • ChipMOS Technologies Inc.
대리인 / 주소
    Troxell Law Office, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 3
초록
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A modular probe card comprises a printed circuit board, an interposer, and a probe head where the printed circuit board has a plurality of first contact pads, the probe head has a plurality of second contact pads. The interposer is disposed between the printed circuit board and the probe head where the interposer includes a substrate and a plurality of pogo pins. The substrate has a first surface, a second surface, and a plurality of through holes penetrating from the first surface to the second surface. The pogo pins are secured in the through holes of ...

대표
청구항
▼

What is claimed is: 1. A modular probe card comprising: a printed circuit board having a plurality of first contact pads; a probe head having a plurality of probes and a plurality of second contact pads; an interposer disposed between the printed circuit board and the probe head, the interposer includes a substrate and a plurality of pogo pins, wherein the substrate has a first surface, a second surface, and a plurality of through holes penetrating from the first surface to the second surface, the pogo pins are secured in the through holes, each pogo pi...

인용문헌 (3)

  1. Fan,Horng Kuang; Sudin,Hendra, Integrated circuit probe card.
  2. Chong, Fu Chiung; Mok, Sammy, Massively parallel interface for electronic circuits.
  3. Eldridge Benjamin N. ; Grube Gary W. ; Khandros Igor Y. ; Mathieu Gaetan L., Method of planarizing tips of probe elements of a probe card assembly.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Nakamura, Shinichi, Double ended contact probe.
  2. Amemiya, Takashi; Hosaka, Hisatomi, Probe card.
  3. Hayasaka, Kazuhito, Probe card and method for selecting the same.
  4. Do, Trent K., Surface connector with silicone spring member.
  5. Wagman, Daniel C.; Jol, Eric S.; Do, Trent K., Surface connector with silicone spring member.
  6. Cartier, Jr., Marc B., Test system with high frequency interposer.

IPC 상위 출원인