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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0622780 (2003-07-21) |
등록번호 | US-7389445 (2008-06-17) |
우선권정보 | JP-2002-218045(2002-07-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 8 |
In a circuit for detecting an abnormal operation of memory, an integrated circuit including the same and a method for detecting an abnormal operation, an abnormal operation of memory is detected before an error occurs in the integrated circuit of a micro-computer and the like due to data wrongly out
What is claimed is: 1. A circuit for detecting an abnormal operation of memory comprising: a delay circuit for delaying an output data output from the memory for a predetermined period of time and for outputting a delayed data responsive thereto; and a comparison circuit for outputting a noncoincid
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