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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0567868 (2006-12-07) |
등록번호 | US-7401503 (2008-07-22) |
우선권정보 | EP-05111775(2005-12-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 5 |
A method and apparatus for analysis of a sample. The method includes an accessing operation for accessing a region of the sample via a tip of at least one probe mounted on a cantilever. A removing operation removes a sample material from the region that is accessed by the tip of the at least one pro
That which is claimed is: 1. A method for analysis of a sample comprising: accessing a region of the sample via a tip of at least one probe mounted on a cantilever, wherein the shape of the tip of is one of a conical shape and a wedge shape; removing a sample material from the region that is access
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