$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Cryogenic variable temperature vacuum scanning tunneling microscope 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
  • G01N-023/00
  • G21K-005/08
  • G21K-005/00
  • G21K-005/10
  • H01J-037/20
출원번호 US-0291210 (2005-11-30)
등록번호 US-7414250 (2008-08-19)
발명자 / 주소
  • Hersam,Mark C.
  • Foley,Edward T.
출원인 / 주소
  • Northwestern University
대리인 / 주소
    Reinhart Boerner Van Deuren s.c.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 9

초록

A cryogenic variable temperature scanning tunneling microscope of novel design and component configuration, for use in conjunction with a variety of low temperature methodologies.

대표청구항

The invention claimed is: 1. A cryogenic variable temperature scanning tunneling microscope apparatus, comprising a scanning tunneling microscope stage component and a cooling system, said cooling system comprising a plurality of interposed compartments, one said compartment between the periphery o

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Elings Virgil B. ; Gurley John A., Feedback control for scanning tunnel microscopes.
  2. Glembocki Orest J. (Alexandria VA) Snow Eric S. (Springfield VA), Method and apparatus for performing scanning tunneling optical absorption spectroscopy.
  3. Ohara Tetsuo (12 Lindall Pl. ; #4 Boston MA 02114), Method of an apparatus for real-time nanometer-scale position measurement of the sensor of a scanning tunneling microsco.
  4. Miyazaki Toshihiko (Hiratsuka JPX) Nose Hiroyasu (Zama JPX) Kuroda Ryo (Machida JPX) Kawase Toshimitsu (Atsugi JPX) Shinjo Katsuhiko (Isehara JPX), Micro-displacement type information detection probe device and scanning tunneling microscope, atomic force microscope, i.
  5. Wickramasinghe Hermantha K. (Chappaqua NY) Williams Clayton C. (Peekskill NY), Scanning thermal profiler.
  6. Binnig Gerd (Richterswil CHX) Rohrer Heinrich (Richterswil CHX), Scanning tunneling microscope.
  7. Mishima Shuzo (Hachioji JPX) Okada Takao (Hachioji JPX) Takase Tsugiko (Hachioji JPX) Ota Hiroko (Hachioji JPX) Miyamoto Hirofumi (Hachioji JPX), Scanning tunneling microscope.
  8. Lindsay Stuart M. (Tempe AZ), Variable temperature scanning probe microscope based on a peltier device.
  9. Lyding Joseph W. (Champaign IL), Variable temperature scanning tunneling microscope.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Snow, David; Chase, Michael; Woidtke, Alex; Mauritsen, Luke; Sellin, Peter B.; Merkel, Kris, Apparatus and methods for improving vibration isolation, thermal dampening, and optical access in cryogenic refrigerators.
  2. Tao, Feng; Salmeron, Miquel; Somorjai, Gabor A., Scanning tunneling microscope assembly, reactor, and system.
  3. Brown, David C.; Pinard, Adam I., Systems and methods of providing improved performance of scanning mirrors coupled to limited rotation motors.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로