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Semiconductor integrated circuit device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-011/00
출원번호 US-0504077 (2006-08-15)
등록번호 US-7420834 (2008-09-02)
우선권정보 JP-2004-267645(2004-09-15)
발명자 / 주소
  • Maeda,Noriaki
  • Shinozaki,Yoshihiro
  • Yamaoka,Masanao
  • Shimazaki,Yasuhisa
  • Isoda,Masanori
  • Nii,Koji
출원인 / 주소
  • Renesas Technology Corp.
대리인 / 주소
    Reed Smith LLP
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 15

초록

The invention provides a semiconductor integrated circuit device provided with an SRAM that satisfies the requirements for both the SNM and the write margin with a low supply voltage. The semiconductor integrated circuit device include: multiple static memory cells provided in correspondence with mu

대표청구항

What is claimed is: 1. A semiconductor integrated circuit device provided with a SRAM memory comprising: a plurality of word lines; a plurality of complementation bit lines; a plurality of memory cells for allocated corresponding to the plurality of word lines and the plurality of complementation b

이 특허에 인용된 특허 (15)

  1. Reddy Chitranjan N. (Milpitas CA) Poteet Kenneth A. (San Jose CA), Dual-port random access memory having reduced architecture.
  2. Graham Andrew C. (Dallas TX), Low-power battery backup circuit for semiconductor memory.
  3. Arimoto Kazutami (Hyogo JPX) Fujishima Kazuyasu (Hyogo JPX) Matsuda Yoshio (Hyogo JPX) Ooishi Tsukasa (Hyogo JPX) Tsukude Masaki (Hyogo JPX), On chip semiconductor memory arbitrary pattern, parallel test apparatus and method.
  4. Miura Daisuke (Yokohama JPX) Shikatani Junichi (Kawasaki JPX), Partial random access memory.
  5. Shah Ashwin H. (Dallas TX), SRAM with constant pulse width.
  6. Ichimura Tooru (Hyogo JPX) Sakemi Kazuhiro (Hyogo JPX) Mori Shigeru (Hyogo JPX) Sakurai Mikio (Hyogo JPX), Semiconductor device having an improved immunity to a short-circuit at a power supply line.
  7. Tsukasa Ooishi JP, Semiconductor device realizing internal operational factor corresponding to an external operational factor stably regardless of fluctuation of external operational factor.
  8. Nii, Koji, Semiconductor memory device capable of controlling potential level of power supply line and/or ground line.
  9. Hoshi Satoru (Kawasaki JPX) Masuda Masami (Yokohama JPX), Semiconductor memory device having a test circuit.
  10. Minami Masataka (Hitachi JPX) Shukuri Shoji (Koganei JPX) Hirao Mitsuru (Ibaraki JPX) Yamanaka Toshiaki (Iruma JPX), Semiconductor memory device having memory cells including IG FETs in a symmetrical arrangement.
  11. Takemura, Takashi, Semiconductor memory device operating in low power supply voltage and low power consumption.
  12. Ito Akira (Kunitachi JPX) Sato Yoichi (Iruma JPX) Ohkuma Tosiyuki (Ohme JPX), Semiconductor memory with a circuit for testing characteristics of flip-flops including selectively applied power supply.
  13. Itoh Kiyoo (Higashi-kurume JPX) Ishibashi Koichiro (Warabi JPX), Static memory cell having independent data holding voltage.
  14. Joshi, Rajiv V., Storage array such as a SRAM with reduced power requirements.
  15. Adams William C. (2822 SE. 8th St. Ocala FL 32670), Transportable module for trilevel dwelling.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Lin, Chih-Yu; Chan, Wei Min; Chen, Yen-Huei; Liao, Hung-Jen; Chang, Jonathan Tsung-Yung, Memory circuit and method of writing datum to memory circuit.
  2. Koyama, Jun; Yamazaki, Shunpei, Memory device, semiconductor device, and electronic device.
  3. Shau, Jeng-Jye, Ultra-low power hybrid circuits.
  4. Shau, Jeng-Jye, Ultra-low power hybrid sub-threshold circuits.
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