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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0950285 (2004-09-23) |
등록번호 | US-7436197 (2008-10-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 8 |
In a test system for a semiconductor device, the device under test (DUT) is remotely located relative to the tester that generates the test vector signals. The tester and remotely located DUT are connected by a serial connection and each includes a serializer-deserializer for converting outgoing dat
What is claimed is: 1. A method of testing a semiconductor device (DUT) using a tester, comprising locating the DUT in a first DUT socket mounted on a first board at a remote location remote from the tester, and providing communication means for serially communicating between the tester and the DUT
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