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Depth-resolved reflectance instrument and method for its use 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G02B-006/26
출원번호 US-0708211 (2007-02-20)
등록번호 US-7440659 (2008-10-21)
발명자 / 주소
  • Liu,Quan
  • Ramanujam,Nirmala
출원인 / 주소
  • Wisconsin Alumni Research Foundation
대리인 / 주소
    Quarles & Brady LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 7

초록

A reflectance instrument illuminates the surface of tissue with light of a selected wavelength and light emanating from the tissue due to reflectance is collected. The angle of illumination of tissue surface and/or collection of reflections is changed to probe at various depths beneath the surface o

대표청구항

The invention claimed is: 1. A method for calculating the scattering and absorption characteristics of two layers of tissue, the steps comprising: a) acquiring a first set of diffuse reflectance measurements from a top layer of said two layers of tissue using an instrument which limits the reflecta

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Utzinger, Urs; Durkin, Anthony J.; Fuchs, Holger; Gillenwater, Ann M.; Heintzelman, Douglas L.; Richards-Kortum, Rebecca R., Combined fluorescence and reflectance spectroscopy.
  2. Liu, Quan; Ramanujam, Nirmala; Zhu, Changfang, Depth-resolved fluorescence instrument.
  3. Mikami, Toru; Kikuchi, Toshihiko, Film thickness measuring method and step measuring method.
  4. Wang Lihong (1404 E. Circle #B College Station TX 77840) Jacques Steven L. (4302 Compton Cir. Bellaire TX 77401), Method of measuring tissue optical properties using an optical beam of oblique incidence and uses thereof.
  5. Sokolov, Konstantin; Drezek, Rebekah; Utzinger, Urs; Richards-Kortum, Rebecca, Methods and apparatus for polarized reflectance spectroscopy.
  6. Khalil, Omar S.; Wu, Xiaomao; Kanger, Johannes Sake; Bolt, Rene' Alexander; Yeh, Shu-Jen; Hanna, Charles F.; de Mul, Frits Frans Maria, Non-invasive sensor capable of determining optical parameters in a sample having multiple layers.
  7. Durkin, Anthony J.; Ediger, Marwood; Matchette, L. Stephanie, Optical fiber probe and methods for measuring optical properties.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Chauchard, Fabien; Roussel, Sylvie, Spectroscopic probe and method for detecting an inhomogeneity.
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