최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0282395 (2005-11-17) |
등록번호 | US-7472576 (2009-01-06) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 94 |
Nanometrology device standards and methods for fabricating and using such devices in conjunction with scanning probe microscopes are described. The fabrication methods comprise: (1) epitaxial growth that produces nanometer sized islands of known morphology, structural, morphological and chemical sta
I claim: 1. A calibration standard, comprising: a substrate; at least one nano-island situated at a surface of the substrate; and an indicia associated with a crystallographic orientation of the at least one nano-island, wherein the indicia is fixed with respect to the nano-island. 2. The calibr
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.