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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G01R-031/42 G01R-031/40 H02H-003/00 |
미국특허분류(USC) | 324/536; 324/522; 361/042 |
출원번호 | US-0606076 (2006-11-30) |
등록번호 | US-7489138 (2009-02-10) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 17 |
A method and apparatus detect arc faults. The method and apparatus may digitally detect current and voltage signals at a master node (111) positioned at a first point in a wiring system (131). At a second point in the wiring system (131), a slave node (122) may digitally detect current and voltage signals. An arc fault that develops between the first and second points in the wiring system (131) may be detected by comparing the current signals from the master node (111) and from the slave node (122), and comparing the voltage signals from the master node ...
We claim: 1. An apparatus for detecting arc faults, said apparatus comprising: a master node for digitally detecting a current signal and a voltage signal at a first point in a wiring system; a slave node for digitally detecting a current signal and a voltage signal at a second point in said wiring system; and a detection unit for detecting an arc fault in said wiring system by comparing said current signals from said master node and from said slave node and comparing said voltage signals from said master node and from said slave node by; monitoring a t...