$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Radiology device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05G-001/64
  • H05G-001/00
출원번호 US-0404773 (2006-04-17)
등록번호 US-7508914 (2009-03-24)
우선권정보 FR-99 11469(1999-09-14)
발명자 / 주소
  • Choi,Peter
출원인 / 주소
  • Nano UV
대리인 / 주소
    Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett & Dunner LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 21

초록

A radiology device includes an X-ray source for exposing a subject to the radiation of said source, a converter for converting the X-rays into optical images so as to form primary optical images, a transformer for transforming the primary optical images into secondary optical images, and a display f

대표청구항

The invention claimed is: 1. A radiology device, comprising: an X-ray source for exposing a subject to radiation from said source; means for converting the X-rays into optical images so as to form primary optical images; a combination of n modules, n being an integer equal to or greater than two, e

이 특허에 인용된 특허 (21)

  1. McCroskey William K. (Solon OH) Vickers David S. (Macedonia OH) Carlson Roland W. (Cleveland OH) Zahn Robert L. (Bainbridge OH) Drobny Jack A. (Seven Hills OH), Detector imaging arrangement for an industrial CT device.
  2. Roeck Werner W. (Irvine CA) Nalcioglu Orhan (Laguna Beach CA) Martin John T. (Riverside CA), Digitally aided microfluoroscopy and fluorospot system and method of using the same.
  3. McIntyre, John A., Fiber optic matrix coding method and apparatus for radiation image amplifier.
  4. Walker James K. (Gainsville FL), High efficiency, high resolution, real-time radiographic imaging system.
  5. Diepstraten Leonardus J. M.,NLX, Image pick-up apparatus and x-ray examination apparatus including a correction system.
  6. Richardson David, Magnetoresistive transducer with four-lead contact.
  7. Wang Yen (6883 Reynolds St. Pittsburgh PA 15208), Minimal radiologic imaging method and apparatus.
  8. Endo Masahiro (Chiba JPX) Tateno Yukio (Chiba JPX) Jinbo Masao (Tochigi JPX) Kusakabe Masahiro (Kanagawa JPX) Sato Kazumasa (Tokyo JPX) Okazaki Tsutomu (Kanagawa JPX), Radiation diagnostic system.
  9. Miller Robert N. (14405 S. Kelmsley Oregon City OR 97045), Real-time x-ray device.
  10. Trissel Richard ; Horton Steve ; Spivey Brett ; Morsell Lee, Scintillator based microscope.
  11. Koguchi Masanari,JPX ; Kakibayashi Hiroshi,JPX ; Ooshima Tetsuya,JPX ; Sameshima Kenji,JPX ; Makishima Tatsuo,JPX ; Kanehori Keiichi,JPX ; Shinada Hiroyuki,JPX, Scintillator device and image pickup apparatus using the same.
  12. Kurihara, Tetsuro, X-Ray diagnostic apparatus.
  13. Baba Rika,JPX ; Ueda Ken,JPX ; Ueki Hironori,JPX ; Kuba Akira,JPX ; Ishikawa Ken,JPX ; Ishiguro Takashi,JPX, X-ray apparatus.
  14. Kagaya Shinichiro (Tochigi JPX), X-ray diagnosis apparatus.
  15. Haaker Paul R. (Hamburg DEX) Klotz Erhard P. A. (Halstenbek DEX) Koppe Reiner H. (Hamburg DEX) Linde Rolf E. (Haseldorf DEX), X-ray diagnostic apparatus comprising means for the enlarged visual display of a selectable detail of the overall image.
  16. Van Bree Martinus H. F. J.,NLX ; Van Den Bogaard Mario,NLX, X-ray examination apparatus including an exposure control system and a method of controlling an amplifier of an image pick-up apparatus.
  17. Bruijns Antonius J. C.,NLX, X-ray examination apparatus including an image pick-up apparatus with a correction unit.
  18. Dillen Bartholomeus G. M. H.,NLX, X-ray examination apparatus including exposure control.
  19. Snoeren Rudolph M.,NLX ; Dillen Bartholomeus G. M. H.,NLX ; Van Den Meijdenberg Willibrordus H. F. M.,NLX, X-ray examination apparatus with a high-resolution image sensor.
  20. Georges Jean-Pierre J. (Waukesha WI) Keyes Gary S. (Hartland WI) Wesbey William H. (New Berlin WI), X-ray image subtracting system.
  21. Grady John K. (111 Slough Rd. Harvard MA 01451) Rice Richard E. (243 Lowell St. Arlington MA 02174), X-ray video system.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로