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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0021377 (2004-12-23) |
등록번호 | US-7518341 (2009-07-01) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 35 |
A method and associated system are disclosed for verifying charging failures for smart batteries by measuring input charging voltage and associated systems. In one embodiment, a determination is made whether or not a charging current is indicative of a battery failure by utilizing an analog-to-digit
What is claimed is: 1. A method for verifying failures in a battery for an information handling system, comprising: monitoring a battery for a charging current, the battery including a discharge transistor (D-FET) coupled between an input for the battery and a cell pack for the battery; when a posi
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