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Method and system for determining process parameters 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/00
  • G01N-025/58
  • G01N-025/56
출원번호 UP-0432296 (2006-05-11)
등록번호 US-7520667 (2009-07-01)
발명자 / 주소
  • Påhlsson, Sten
  • Gunawardena, Ramesh M.
출원인 / 주소
  • John Bean Technologies AB
대리인 / 주소
    Christensen O'Connor Johnson Kindness PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 29

초록

The present invention relates to a method and a system for determining a set of process parameters of a treatment unit in which unit a product is subjected to a temperature treatment, the method comprising: subjecting a product to an electromagnetic signal before, during and/or after a temperature t

대표청구항

The invention claimed is: 1. Method of determining a set of process parameters of a treatment unit in which unit a product is subjected to a temperature treatment, the method comprising: providing a product, subjecting said product to a temperature treatment in a treatment unit, subjecting said pro

이 특허에 인용된 특허 (29)

  1. Johnson Steven A. (1916 E. Browning Ave. Salt Lake City UT 84108) Wiskin James W. (1021 Medical Towers Salt Lake City UT 84112) Borup David T. (1133 E. Sunnyside Ave. Salt Lake City UT 84103) Christe, Apparatus and method for imaging with wavefields using inverse scattering techniques.
  2. Bottcher Wolfgang (Dortmund DEX) Kopineck Hermann-Josef (Dortmund DEX), Apparatus for non-destructively testing materials.
  3. Coppleson John Victor Malcom,AUX ; Reid Bevan Leslie,AUX ; Skladnev Victor Nickaelovich,AUX, Apparatus for tissue type recognition.
  4. Yamaguchi Seiji (Sagamihara JPX) Yamaura Takeshi (Narashino JPX) Ogata Takatsugu (Sayama JPX) Suzuki Tsutomu (Tokyo JPX) Arai Ikuo (Tokyo JPX), Densitometer using a microwave.
  5. Cutmore Nicholas G. (Woronora Heights AUX), Determination of carbon in a fly ash sample through comparison to a reference microwave attenuation and phase shift.
  6. Vivekanandan, Jothiram; Zhang, Guifu, Determining temperature of a physical medium using remote measurement.
  7. Izatt Joseph A. ; Kulkarni Manish D. ; Yazdanfar Siavash ; Rollins Andrew ; Sivak Michael V., Doppler flow imaging using optical coherence tomography.
  8. Svenson Robert H. ; Semenov Serguei Y. ; Baranov Vladimir, Electromagnetic imaging and therapeutic (EMIT) systems.
  9. Kojima Toshitada (Ohtsu JPX), Electronically controlled cooking apparatus.
  10. Brooke Robert L. (4700 Korvett Dr. Woodbridge VA 22193), High speed bulk grain moisture measurement apparatus.
  11. Doss James D. (Los Alamos NM), Implantable apparatus for localized heating of tissue.
  12. Wilk Peter J., Medical treatment method with scanner input.
  13. Berger Lutz (Eggenstein-Leopoldshafen DEX) Krieg Gunther (Karlsruhe DEX) Schmitt Gerhard (Karlsruhe DEX), Method and apparatus for analysis by means of microwaves.
  14. Godik Eduard E., Method and apparatus for diagnostics of internal organs.
  15. Klingenbeck Klaus (Hessdorf DEX) Regn Judith (Nuremberg DEX), Method and apparatus for identifying the distribution of the dielectric constants in an object.
  16. Kirino Yoshio (Tokyo JPX) Kusama Tateo (Tokyo JPX), Method and apparatus for measuring a deep impurity level of a semiconductor crystal.
  17. Klingenbeck Klaus (Hessdorf DEX) Schittenhelm Rudolf (Erlangen DEX), Method and apparatus for non-contacting identification of the temperature distribution in an examination subject.
  18. John C. Murphy ; Robert Osiander ; Jane W. Maclachlan Spicer, Method for nondestructive/noncontact microwave detection of electrical and magnetic property discontinuities in materials.
  19. Land David V. (Glasgow GB6), Microwave thermographic apparatus.
  20. Svenson Robert H. ; Semenov Serguei Y.,RUX ; Baranov Vladimir Y.,RUX, Microwave tomographic spectroscopy system and method.
  21. Bakhtiari Sasan ; Gopalsami Nachappa ; Raptis Apostolos C., Millimeter wave sensor for on-line inspection of thin sheet dielectrics.
  22. Sunshine, Steven A.; Steinthal, M. Gregory; Roy, Ajoy, Multiple sensing system and device.
  23. Kline Ronald A. (Norman OK) Madaras Eric I. (York Town VA), Non-destructive method for determining elastic moduli of material.
  24. Pesach,Benny, Permittivity based temperature measurement and related methods.
  25. Watkins, Michael L.; Fleischhauer, Grier S.; Lilly, Jr., A. Clifton, Process control by transient thermography.
  26. Guo Wendy W. (10618 Tanager La. Potomac MD 20854) Guo Theodore C. (10618 Tanager La. Potomac MD 20854), Quantitative dielectric imaging system.
  27. Sterzer Fred (Princeton NJ), Scanning microwave hyperthermia with feedback temperature control.
  28. Bronicki Lucien Y. (Rehovot IL), Supercharger system for combustion engine.
  29. Conroy Peter J. (Warrington GBX), Temperature measurement.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Shirazi, Yaacov, Aqua index.
  2. Shirazi, Yaakov, Aqua index.
  3. Wenger, Fabian, Flow measurement using near field microwaves.
  4. Hyde, Roderick A.; Wood, Jr., Lowell L., Non-thermal electromagnetic sterilization.
  5. Hyde, Roderick A.; Wood, Jr., Lowell L., Non-thermal electromagnetic sterilization.
  6. Mujat, Mircea; Kessler, William J., Optical coherence tomography (OCT) freeze drying microscopy.
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