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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0179674 (2008-07-25) |
등록번호 | US-7576850 (2009-08-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 111 |
A flaw and foreign object debris (FOD) detection system (11) for use during fabrication of a structure (12) includes an illumination device (13). The illumination device (13) is configured to be in proximity with a fabrication system (10) and illuminates a portion (18) of the structure (12). The ill
We claim: 1. A method of detecting flaws or FOD in a composite structure during the fabrication process of that structure comprising: illuminating a portion of the composite structure across its entire width with a light source mounted to be in proximity with said composite structure and directing
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