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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0217884 (2005-09-01) |
등록번호 | US-7632012 (2009-12-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 33 |
A method for measuring the differential emissivity between two sites on the surface of a body and the temperature of the two sites. The method includes a plurality of measurements of the infrared radiation arising from each of the two sites under a number of different conditions. Some of the measu
I claim: 1. A method of measuring temperature comprising: detecting infrared radiation arising at a first wavelength from a first site on a surface of a body when not irradiated by external infrared radiation; detecting infrared radiation arising at said first wavelength from said first site while
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