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Methods and devices for evaluating the thermal exposure of a metal article

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/72
  • G01N-017/00
  • G01K-003/00
출원번호 UP-0126793 (2005-05-10)
등록번호 US-7654734 (2010-03-31)
발명자 / 주소
  • Jiang, Liang
  • Kool, Lawrence Bernard
  • Jackson, Melvin Robert
  • Hardwicke, Canan Uslu
  • Zhao, Ji-Cheng
  • Ritter, Ann Melinda
  • Lee, Ching-Pang
출원인 / 주소
  • General Electric Company
대리인 / 주소
    Coppa, Francis T.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 22

초록

A method for evaluating the thermal exposure of a selected metal component which has been exposed to changing temperature conditions is described. The voltage distribution on a surface of the metal component, or on a metallic layer which lies over the component, is first obtained. The voltage distri

대표청구항

What is claimed is: 1. A method for evaluating the thermal exposure of a selected metal component which has been exposed to changing temperature conditions, comprising the following steps: (a) determining the voltage distribution on a surface of the metal component, or on a protective metallic laye

이 특허에 인용된 특허 (22)

  1. Maris Humphrey J ; Stoner Robert J, Apparatus and method for characterizing thin film and interfaces using an optical heat generator and detector.
  2. Adiutori Eugene F. (Westchester OH), Apparatus and method for measuring the thermal performance of a heated or cooled component.
  3. Wang Zhihai (Beaverton OR) Adams Bruce (Portland OR), Apparatus and method for monitoring a temperature using a thermally fused composite ceramic blackbody temperature probe.
  4. Fisher Edward A. (Cincinnati OH) Gehring Keith L. (West Chester OH), Gas turbine pyrometer filtering system.
  5. Nicholas William R. (115 Linda La. Apt. #2 Palm Beach Shores ; Singer Island FL 33404), Metal-alloy thermoelectric characteristic analyzer.
  6. Azzedine Hammiche GB; Hubert Murray Montagu-Pollock GB; Michael Reading GB; Mo Song GB, Method and apparatus for performing localized thermal analysis and sub-surface imaging by scanning thermal microscopy.
  7. Kool, Lawrence Bernard; Carl, Jr., Ralph James; Wei, Bin; Ruud, James Anthony; Rosenzweig, Mark Alan; Ferrigno, Stephen Joseph, Method and apparatus for selectively removing coatings from substrates.
  8. Francis I. Baratta, Method and apparatus for the nondestructive determination of the purity of a test object.
  9. Baratta Francis I. (138 Ridge St. Arlington MA 02174), Method of and apparatus for nondestructively determining the composition of an unknown material sample.
  10. Yamakawa Akira (Hyogo JPX) Miyake Masaya (Hyogo JPX) Ishizaki Kozo (Niigata JPX) Watari Koji (Aichi JPX), Method of evaluating ceramics.
  11. Schnell,Alexander; Antonelli,Giampiero; Germerdonk,Klaus, Non-destructive testing method of determining the depletion of a coating.
  12. Watanabe Keiichiro (Nagoya JPX) Matsuhisa Tadaaki (Kasugai JPX) Sakai Hiroaki (Nagoya JPX), Process for determining the distribution of temperatures at surfaces of high temperature members.
  13. Cote, Paul; Kendall, Gay; Todaro, Mark, Pulsed laser heating simulation of thermal damage on coated surface.
  14. Masom Ronald A. (Southampton GB2), Pyrometer systems for gas-turbine engines.
  15. Orpet, Edward G., Radiation pyrometer system.
  16. Ignatowicz Steven A. (Wheeling IL), Scanning infrared thermometer with DC offset and emissivity correction.
  17. Deacutis James J. (Hanover NH) Henning Albert K. (Norwich VT), Switchable thermoelectric element and array.
  18. Twerdochlib Michael (Oviedo FL), Temperature compensated eddy current sensor temperature measurement in turbine blade shroud monitor.
  19. Lorenz William (South Bend IN), Thermocouple biasing circuit.
  20. Rowsey James H. (Huntington WV) Snavely Charles E. (Proctorville OH) Luce Clayton D. (Huntington WV), Thermoelectric metal sorter.
  21. Choi, Sukhwan, Turbine blade (bucket) health monitoring and prognosis using infrared camera.
  22. Jensen Stephen C. (Edina MN), Turbine blade temperature detecting pyrometer.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Abbink, Henry C.; Kuhn, Gabriel M.; Ge, Howard; Sakaida, Daryl, Method for determining leak rate through a bond line of a MEMS device.
  2. Abbink, Henry C.; Kuhn, Gabriel M.; Ge, Howard; Sakaida, Daryl, Method for optimizing direct wafer bond line width for reduction of parasitic capacitance in MEMS accelerometers.
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