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Method and apparatus for detecting leaks in blister packs using vacuum and vision testing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01M-003/32
출원번호 UP-0987270 (2007-11-28)
등록번호 US-7665346 (2010-04-09)
발명자 / 주소
  • Stauffer, Anton
  • Stauffer, Oliver
  • Knellar, Mikhail
출원인 / 주소
  • Packaging Technologies & Inspection, LLC
대리인 / 주소
    Dowell & Dowell, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 13

초록

A method and apparatus for detecting leaks in blister packages wherein a package is supported with a support chamber and a flexible and imperforate bladder is placed over the package after which at least a partial vacuum pressure is applied and a measure made to determine if any leakage is detected

대표청구항

We claim: 1. A method of testing for seal and other packaging defects in blister-like packaging wherein the packaging includes at least one product receiving pouch having a flexible surface covering using a vacuum tester and an image analyzer, the method comprising the steps of: A. placing the pack

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Tyson ; II John (Wayne PA) Newman John W. (Berwyn PA), Apparatus and method for detecting leaks in packages.
  2. Soloman Sabrie B. (Ridgewood NJ), Automatic blister inspection system.
  3. Kono Tadahisa,JPX ; Nishimura Masaji,JPX ; Kubota Kunihiko,JPX ; Miwa Yasuo,JPX, Container inspecting apparatus.
  4. Vinton Melvin (Cambridge GB2) Hawes Anthony D. McI. (Cambridge GB2), Hermetically sealed package tester.
  5. Fraim Freeman W. ; Di Bella Francis A. ; Fine David H. ; Beaty John S., Leak analysis.
  6. Parker, Andrew Ernest, Leak detection apparatus for blister packs.
  7. Lamont Gordon J.,CAX ; Wilkinson David P.,CAX, Method and apparatus for detecting and locating perforations in membranes employed in electrochemical cells.
  8. Colligan Francis D. (Waterbury CT) Brown Lloyd S. (Guilford CT), Method and apparatus for detecting leaks in sealed packages.
  9. Chien, Allen; Geefay, Frank S; Han, Cheol Hyun; Gan, Qing, Method and apparatus for hermeticity determination and leak detection in semiconductor packaging.
  10. Klein,Marton; Metzger,Burkhard; Weitzel,Bernhard, Method for measuring the leaktightness of sealed containers.
  11. Pailler Andr (Miribel FRX), Process and apparatus for monitoring the pressure prevailing in a vessel or receptacle.
  12. Stauffer, Anton, Systems and apparatus for airborne ultrasonic testing of package and container seals.
  13. Yamato Yoshihiro (Kanagawa JPX) Gomibuchi Tadashi (Tokyo JPX), Vacuum degree inspecting device for sealed up vessel.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Guazzo, Dana; Wolf, Heinz, At rest vacuum state for vacuum decay leak testing method and system.
  2. Badawy, Wael; Rahman, Ashiq; Rogers, Shane; Du, Shan, Leak detection.
  3. Bonfiglioli, Giuseppe, Method and apparatus for checking syringe bodies.
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