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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0517651 (2006-09-08) |
등록번호 | US-7672501 (2010-04-21) |
우선권정보 | JP-2005-266364(2005-09-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 1 |
A substrate inspection system is formed with an inspection device associated with a reflow process at the end of a series of production processes for substrates, image collectors each associated with a different one of the production processes upstream to the reflow process and an image display devi
What is claimed is: 1. A substrate inspection system comprising: an inspection device associated with one other than the first of a plurality of production processes that are carried out sequentially for producing substrates; an image collector associated with one of said production processes upstr
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