[특허]Contact layers for thin film solar cells employing group IBIIIAVIA compound absorbers

Contact layers for thin film solar cells employing group IBIIIAVIA compound absorbers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H01L-021/20
출원번호	UP-0565971 (2006-12-01)
등록번호	US-7713773 (2010-06-03)
발명자 / 주소	Aksu, Serdar Basol, Bulent M.
출원인 / 주소	SoloPower, Inc.
대리인 / 주소	Pillsbury, Winthrop, Shaw, Pittman LLP
인용정보	피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 24

초록 ▼

The present invention provides methods and apparatus for deposition of contact layers for Group IBIIIAVIA solar cells using electrodeposition and/or electroless deposition approaches, and solar cells that result therefrom. In one aspect of the invention, the solar cell that results includes a substrate, a stacked contact layer that includes a bottom film coated on a surface of the substrate and a top film formed by electroplating over the bottom film, wherein the top film comprises at least one of Ru, Ir and Os. A Group IBIIIAVIA compound film formed over the top film. In another aspect of the invention, there is provided a method of depositing a stacked layer of a plurality of films in a plurality of sequentially disposed depositing units onto a continuously moving roll-to-roll sheet, preferably using electroplating of a stacked contact layer.

대표청구항 ▼

I claim: 1. A method of depositing a stacked layer of a plurality of films in a plurality of sequentially disposed depositing units onto a continuously moving roll-to-roll sheet comprising the steps of: continuously moving the roll-to-roll sheet through each of the plurality of sequentially disposed depositing units so that continuous portions of a top surface of the roll-to-roll sheet are positioned for depositing to occur thereon when disposed in each of the depositing units; and continuously depositing each one of the films onto the top surface of the roll-to-roll sheet as the roll-to-roll sheet moves through electroplating the units, the plurality of films sequentially including: a contact layer comprising a bottom metal film, a top metal film, and at least one intermediate film between the bottom metal film and the top metal film, wherein the bottom film comprises at least one of Zn, Cu, Ni and Co, wherein the top metal film comprises at least one of Ru, Os and Ir, and wherein the at least one intermediate film comprises at least one of Zn, Cu, Ni and Co; and a precursor layer comprising at least one Group IB material film and at least one Group IIIA material film, wherein the step of continuously depositing deposits all of the films by at least one of electroplating and electroless plating, and wherein each of the depositing units is one of electroplating and electroless plating depositing units. 2. The method according to claim 1 wherein the step of continuously depositing deposits all of the films by electroplating, and wherein each of the depositing units is electroplating depositing units. 3. The method according to claim 1 wherein the precursor layer further comprises at least one Group VIA material film. 4. The method according to claim 1 wherein at least one Group IB material film is a Cu film and at least one Group IIIA material film comprises an In film and a Ga film. 5. The method according to claim 3 wherein the at least one Group VIA material film is a Se film. 6. The method according to claim 5 wherein at least one Group IB material film is a Cu film and at least one Group IIIA material film comprises an In film and a Ga film.

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