$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Electrically programmable reticle and system

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G02F-001/15
  • G02F-001/153
  • G09G-003/38
출원번호 UP-0696862 (2007-04-05)
등록번호 US-7724416 (2010-06-14)
발명자 / 주소
  • Miller, Keith Randolph
출원인 / 주소
  • Advanced Micro Devices, Inc.
대리인 / 주소
    Meyertons, Hood, Kivlin, Kowert & Goetzel, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 9

초록

An electrically programmable reticle is made using at least one electrochromatic layer that changes its optical transmissibility in response to applied voltages. Transparent conductor layers are configured to the desired patterns. The electrically programmable reticles are either patterned in contin

대표청구항

What is claimed is: 1. An electrically programmable reticle comprising: an electrochromatic layer having a substantially reflective area and a substantially opaque area, wherein said substantially reflective area is in response to a first electric field, and further wherein said substantially opaqu

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Bobroff Norman (Katonah NY) Rosenbluth Alan E. (Yorktown Heights NY), Ablation mask and use thereof.
  2. Hemar,Shirley; Goldenshtein,Alex; Greenberg,Gadi; Friedman,Mula; Kenan,Boaz, Alternating phase-shift mask inspection method and apparatus.
  3. Pizzarello Frank A. (Yorba Linda CA), Electrochromic nonvolatile memory device.
  4. Ceglio Natale M. (Livermore CA) Markle David A. (Saratoga CA), Maskless, reticle-free, lithography.
  5. Vincent,Kent D.; Zhang,Xiao An; Williams,R. Stanley, Molecular light valve display having sequenced color illumination.
  6. Phan, Khoi A.; Singh, Bhanwar; Rangarajan, Bharath, Reticle defect printability verification by resist latent image comparison.
  7. Benson David K. (Golden CO) Crandall Richard S. (Boulder CO) Deb Satyendra K. (Boulder CO) Stone Jack L. (Lakewood CO), Stand-alone photovoltaic (PV) powered electrochromic window.
  8. Yaniv, Zvi, Switchable transparent screens for image projection system.
  9. Choi, Sang Ho, Viewing-angle controllable color filter substrate, liquid crystal display having the same, and manufacturing method thereof.

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Sammut, Dennis J., Apparatus and method for aiming point calculation.
  2. Sammut, Dennis J., Apparatus and method for aiming point calculation.
  3. Sammut, Dennis J., Apparatus and method for aiming point calculation.
  4. Sammut, Dennis J.; Chao, Lawrence, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  5. Sammut, Dennis J.; Chao, Lawrence, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  6. Sammut, Dennis J.; Chao, Lawrence, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  7. Sammut, Dennis J.; Chao, Lawrence, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  8. Sammut, Dennis J.; Chao, Lawrence, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  9. Sammut, Dennis J.; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  10. Sammut, Dennis J.; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  11. Sammut, Dennis J.; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  12. Sammut, Dennis J.; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  13. Sammut, Dennis J.; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  14. Sammut, Dennis; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  15. Sammut, Dennis; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  16. Sammut, Dennis; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  17. Sammut, Dennis; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  18. Sammut, Dennis; Hodnett, Todd, Apparatus and method for calculating aiming point information.
  19. Egerton, Peter; Gaskell, Drew, Multi-pane dynamic window and method for making same.
  20. Egerton, Peter; Gaskell, Drew, Multi-pane dynamic window and method for making same.
  21. Menon, Rajesh, Programmable photolithography.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트