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Prediction method of near field photolithography line fabrication using by the combination of taguchi method and neural network 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06G-007/48
  • G06F-007/60
  • G06F-017/10
  • G05B-013/02
  • G06F-015/18
  • G06N-003/00
  • G06N-003/12
출원번호 UP-0760795 (2007-06-11)
등록번호 US-7747419 (2010-07-19)
우선권정보 TW-96107810 A(2007-03-07)
발명자 / 주소
  • Lin, Zone-Ching
  • Yang, Ching-Been
출원인 / 주소
  • National Taiwan University of Science and Technology
대리인 / 주소
    Jianq Chyun IP Office
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 5

초록

A method of building a set of experimental prediction model that requires fewer experimental frequency, shorter prediction time and higher prediction accuracy by using the advantages of combining the experimental data of Taguchi method and neural network learning is disclosed. The error between the

대표청구항

What is claimed is: 1. A prediction method of near field photolithography line fabrication by using the combination of Taguchi method and neural network, comprising: a first step of combining a theoretical model and the experiment of a near field photolithography line fabrication, using a non-destr

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Heavlin, William D., Lot specific process design methodology.
  2. Cawlfield David W. (Cleveland TN), Model predictive control apparatus and method.
  3. Nitta Tsuneo (Yokohama JPX), Pattern recognition system and method using neural network.
  4. Nomura Masahide (Hitachi JPX) Saito Tadayoshi (Hitachi JPX) Matsumoto Hiroshi (Ibaraka JPX) Shimoda Makoto (Katsuta JPX) Kondoh Masakazu (Hitachi JPX) Miyagaki Hisanori (Ohta JPX) Sugano Akira (Katsu, Process control method and system for performing control of a controlled system by use of a neural network.
  5. William D. Heavlin, Statistical process window design methodology.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Blair, Loudon Thomas, Proactive operations, administration, and maintenance systems and methods in networks using data analytics.
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