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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0177311 (2008-07-22) |
등록번호 | US-7780347 (2010-09-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 66 |
A device temperature measurement circuit, an integrated circuit (IC) including a device temperature measurement circuit, a method of characterizing device temperature and a method of monitoring temperature. The circuit includes a constant current source and a clamping device. The clamping device sel
What is claimed is: 1. A device temperature measurement circuit comprising: a PN junction in a device; a constant current source selectively providing current to said PN junction; and a clamping device in parallel with said PN junction and selectively passing all current from said constant current
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