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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0930339 (2004-08-31) |
등록번호 | US-7804059 (2010-10-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 62 |
A calibration technique is provided that utilizes a standard sample that allows for calibration in the wavelengths of interest even when the standard sample may exhibit significant reflectance variations at those wavelengths for subtle variations in the properties of the standard sample. A second sa
What is claimed is: 1. A method of calibrating a system that obtains reflectance data, comprising: collecting reflectance data from a standard sample, wherein exact properties of the standard sample vary from assumed properties of the standard sample; and utilizing, in the wavelength region for whi
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