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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0692331 (2007-03-28) |
등록번호 | US-7807982 (2010-10-26) |
우선권정보 | JP-2006-089840(2006-03-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 117 인용 특허 : 13 |
It is an object of the present invention to provide a charged particle beam extraction method and particle beam irradiation system that make it possible to exercise intensity control over an extracted ion beam while a simple device configuration is employed. To accomplish the above object, there is
What is claimed is: 1. A particle beam irradiation system comprising: a synchrotron for accelerating and extracting a charged particle beam; an irradiation apparatus for radiating the charged particle beam extracted from said synchrotron; and an extraction control apparatus for controlling extracti
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