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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0986615 (2007-11-21) |
등록번호 | US-7817392 (2010-11-08) |
우선권정보 | KR-10-2006-0115186(2006-11-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 8 |
An Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT) fault protection system is provided. The fault protection system includes a GVPA, a gate voltage clamper, and a soft-off unit. The GVPA analyzes a gate voltage pattern of an IGBT to determine whether or not a fault has occurred. The gate voltage clamper pr
What is claimed is: 1. An Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT) fault protection system comprising: a Gate Voltage Pattern Analyzer (GVPA) configured to analyze a gate voltage pattern of an IGBT to determine whether or not a fault has occurred, wherein the GVPA comprises: a first comparator conf
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