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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0433332 (2006-05-12) |
등록번호 | US-7860915 (2011-02-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 140 |
A method for detecting a pattern from an arithmetic logic unit (ALU) in an integrated circuit. The method includes the steps of: generating an output from an ALU; bitwise comparing the ALU output to a pattern to produce a first output; inverting the pattern and comparing the ALU output with the inve
What is claimed is: 1. An integrated circuit (IC) for pattern detection comprising; a digital signal processing unit configured to produce a digital signal processing unit output; a selected mask of a plurality of masks selected by a first multiplexer, the first multiplexer coupled to a comparison
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