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Apparatus and method for testing temperature

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-001/02
출원번호 US-0045672 (2008-03-10)
등록번호 US7862231 (2010-12-20)
우선권정보 CN-2007-007 1 0203437(2007-12-27)
발명자 / 주소
  • Liu, Hsing-Chang
출원인 / 주소
  • Foxnum Technology Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Frank R., Niranjan
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 7

초록

An apparatus for testing temperature includes a plurality of thermocouples, a plurality of relays, a ground circuit, a compensation circuit, a power supply circuit, a switch circuit, and an MPU. The thermo-couples samples temperatures at different locations in a CNC machine, each thermo-couple is co

대표청구항

What is claimed is: 1. An apparatus for testing temperature comprising a plurality of thermo-couples, a plurality of relays, a ground circuit, a compensation circuit, a power supply circuit, a switch circuit, and a micro processor unit (MPU), the thermo-couples configured for sampling temperature at

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Weedon Hans (Salem MA), Auxiliary data acquisition in a medical imaging system.
  2. Watabe Mitsuru,JPX ; Ishikawa Hideaki,JPX, Driving device of sensors and actuators.
  3. Dewey Keith L. (Reynoldsburg OH) Varrasso Eugene C. (Heath OH), Method for simultaneous reference junction compensation of a plurality of thermocouples.
  4. Kinoshita, Jiro; Aoyama, Kazunari; Okamura, Yukio, Method of operation controller having processor for controlling industrial machine.
  5. Hoopes ; Howard Sherman ; McClenahan ; Robert William ; Walsh ; Thomas Joseph ; Zecca ; James William, Open circuit detector for multipoint recorder.
  6. Schwartz Bradley N. ; Kirkpatrick William R., Switch for selectively coupling a sensor or calibration element to a terminal block.
  7. Jalluri, Chandra; Magadi, Prashanth; Kaufman, Ingrid, System and method for monitoring machine health.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Lee, Won-Kyo; Choi, In-Hyuk; Choi, Jong-Kee; Hwang, Kap-Cheol, Simulation test system for thermal impact ageing of power transmission insulator.
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