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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0229980 (2008-08-27) |
등록번호 | US7877232 (2011-01-10) |
우선권정보 | SG-2007-00717024-4(2007-10-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 2 |
A metric based performance monitoring a process control system is disclosed in which diagnostics are performed at multiple levels of the plant, results of the diagnostics converted into Key Performance Indicators and compared to predetermined benchmarks such that an integrated and overall determinat
The invention claimed is: 1. A method of monitoring the performance of a plant including devices, control loops and equipment comprising:a. performing diagnostics from a device level, to a control loop level and then to an equipment level;b. converting results of the diagnostics of each of said leve
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