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Method for improving the selectivity of a CVD process 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/44
출원번호 US-0850916 (2007-09-06)
등록번호 US7884018 (2011-01-26)
발명자 / 주소
  • McFeely, Fenton R.
  • Yang, Chih-Chao
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Cantor Colburn LLP
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 7

초록

A method of forming a noble metal cap on a conductive material embedded in a dielectric material in an interconnect structure. The method includes the step of contacting (i) a conductive material having a bare upper surface partially embedded in a dielectric material and (ii) vapor of a noble metal

대표청구항

What is claimed is: 1. A method of forming a noble metal cap on a conductive material embedded in a dielectric material in an interconnect structure, comprising the sequential steps of:storing a vapor of a noble metal compound under an atmosphere comprising carbon monoxide;evacuating the carbon mono

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Cunningham,James A., Copper interconnect systems which use conductive, metal-based cap layers.
  2. Sudijono, John; Hsia, Liang Ch O; Ping, Liu Wu, Copper recess formation using chemical process for fabricating barrier cap for lines and vias.
  3. Dubin, Valery M.; Thomas, Christopher D.; McGregor, Paul; Datta, Madhav, Interconnect structures and a method of electroless introduction of interconnect structures.
  4. Chao-Kun Hu ; Robert Rosenberg ; Judith Marie Rubino ; Carlos Juan Sambucetti ; Anthony Kendall Stamper, Reduced electromigration and stressed induced migration of Cu wires by surface coating.
  5. Joshi Rajiv V. (Yorktown Heights NY) Cuomo Jerome J. (Lincolndale NY) Dalal Hormazdyar M. (Milton NY) Hsu Louis L. (Fishkill NY), Refractory metal capped low resistivity metal conductor lines and vias.
  6. Joshi Rajiv V. ; Cuomo Jerome J. ; Dalal Hormazdyar M. ; Hsu Louis L., Refractory metal capped low resistivity metal conductor lines and vias formed using PVD and CVD.
  7. Dubin Valery M. (Cupertino CA) Schacham-Diamand Yosi (Ithaca NY) Zhao Bin (Irvine CA) Vasudev Prahalad K. (Austin TX) Ting Chiu H. (Saratoga CA), Use of cobalt tungsten phosphide as a barrier material for copper metallization.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Lee, William T., Plated metal hard mask for vertical NAND hole etch.
  2. Huffman, James; Kennedy, Larry; Coppa, Frank, System and method for internet protocol television product placement data.
  3. Huffman, James; Kennedy, Larry; Coppa, Frank, System and method for internet protocol television product placement data.
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