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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0184575 (2008-08-01) |
등록번호 | US7941701 (2011-04-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 24 인용 특허 : 0 |
A method and apparatus are provided for diagnosing faults in a monitored system. Estimates of parameter data are generated from the system with reference parameter data characteristic of known behavior of the system. The generated estimates of the parameter data are compared with measured parameter
We claim: 1. A method of diagnosing faults in a monitored system, comprising:generating estimates of parameter data for parameters monitored on the monitored system by using reference parameter data characteristic of known behavior of the system;comparing the generated estimates of the parameter dat
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