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연합인증

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I/O switches and serializer for each parallel scan register 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/28
출원번호 US-0835358 (2010-07-13)
등록번호 US7962816 (2011-05-31)
발명자 / 주소
  • Whetsel, Lee D.
출원인 / 주소
  • Texas Instruments Incorporated
대리인 / 주소
    Lawrenced J., Bassuk
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 4

초록

An emulator for emulating operations of data processing circuitry normally connected to and cooperable with a peripheral circuit includes serial scanning circuitry connectable to the peripheral circuit. The serial scanning circuitry provides to and receives from the peripheral circuit signals which

대표청구항

What is claimed is: 1. An integrated circuit comprising;A. functional input leads;B. functional output leads;C. a TDI input lead;D. a TMS input lead;E. a TCK input lead;F. a TDO output lead;G. a TAP controller that includes a first state machine circuit, the TAP controller having inputs connected to

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Shiono Toru (Tokyo JPX) Senuma Toshitaka (Tokyo JPX) Matsuno Katsumi (Kanagawa JPX) Fukuda Tokuya (Tokyo JPX), Apparatus and method for testing the interconnection between integrated circuits.
  2. Gillenwater Russell L. (Round Rock TX) Safari Davoud (Round Rock TX) Owens Gary D. (Austin TX), Fail safe, fault tolerant circuit for manufacturing test logic on application specific integrated circuits.
  3. Andrews John R. (Saco ME), Test access port controlled built in current monitor for IC devices.
  4. Okumoto Koji (Tokyo JPX) Matsuno Katsumi (Kanagawa JPX) Shiono Toru (Tokyo JPX) Senuma Toshitaka (Tokyo JPX) Fukuda Tokuya (Tokyo JPX) Takada Shinji (Kanagawa JPX), Testing method for electronic apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Bhaskarani, Sravan Kumar, Integrated circuit die testing apparatus and methods.
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