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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0581421 (2009-10-19) |
등록번호 | US7974459 (2011-06-22) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 75 |
A system for the characterization of webs that permits the identification of anomalous regions on the web to be performed at a first time and place, and permits the localization and marking of actual defects to be performed at a second time and place.
The invention claimed is: 1. A method of analyzing a web of material containing at least two anomalies, comprising:receiving a web of material having upon it regularly spaced fiducial marks that uniquely identify a plurality of distinct positions on the web;imaging at least a portion of the web as p
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