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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0521771 (2006-09-15) |
등록번호 | US7976217 (2011-06-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 24 |
A screening device and a method are described herein which can automatically handle and measure (interrogate) a plurality of sensor carriers (i.e., multiwell plates, microplates) with multi-dimensionally arranged, temperature-compensated or temperature-compensatable optical sensors, while maintainin
What is claimed is: 1. A screening system capable of controlling at least one of movement and storage of a sensor carrier therein to ensure there is a substantially constant temperature gradient present across at least a portion of the sensor carrier, further comprising a temperature equilibration s
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