$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Cradle assembly for a pressure decay leak tester

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) B25B-011/00   
미국특허분류(USC) 269/153; 269/020; 269/056; 269/265; 073/04050R; 073/0407; 073/046
출원번호 US-0193728 (2008-08-19)
등록번호 US8006967 (2011-08-15)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 20
초록
▼

A cradle assembly for a pressure decay leak tester is provided. The assembly operatively receives a printhead integrated circuit carrier having a plurality of printing fluid paths defined therein, respective fluid inlets in fluid communication with respective fluid paths and a locating formation to facilitate correct location of the carrier on the tester. The assembly includes at least one complementary locating formation for engaging the locating formation of the carrier, and at least one fluid outlet for charging the carrier with fluid via a respective...

대표
청구항
▼

The invention claimed is: 1. A cradle assembly for a pressure decay leak tester, said assembly operatively receiving a printhead integrated circuit carrier having a plurality of printing fluid paths defined therein, respective fluid inlets in fluid communication with respective fluid paths and a locating formation to facilitate correct location of the carrier on the tester, the assembly comprising:at least one complementary locating formation for engaging the locating formation of the carrier;at least one fluid outlet for charging the carrier with fluid ...

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. Goldfarb, Harold; Perkins, Kenneth L.; Weigand, Bernard L.. Elevated transient temperature leak test for unstable microelectronic packages. USP1985114553435.
  2. Norton Charles J. (Plymouth MI) Schrom Andrew F. (Detroit MI). Flexible industrial system with quick change part holding means. USP1986074602499.
  3. White James W. (Huntsville AL) Ruwe Victor W. (Huntsville AL) Davis Donald R. (Huntsville AL). Glass lead seal test apparatus. USP1982114356721.
  4. Keefe Brian J. ; Steinfield Steven W. ; Childers Winthrop D. ; McClelland Paul H. ; Trueba Kenneth E.. Ink delivery system for an inkjet printhead. USP2001016179414.
  5. Brooks Jeffrey B. ; Spehrley ; Jr. Charles W. ; Barss Steven H. ; Moynihan Edward R. ; Hine Nathan P. ; Gailus David W.. Ink jet printing system. USP1999065910810.
  6. Caren Michael P. ; Gunther Max Stephen ; Nadworny John C.. Inkjet cartridge design for facilitating the adhesive sealing of a printhead to an ink reservoir. USP1998045736998.
  7. Schaeffer Sara E. ; Gunther Max S.. Inkjet print cartridge design to decrease deformation of the printhead when adhesively sealing the printhead to the pri. USP1998125852460.
  8. Tveter Richard S. (Barrington IL) Miller Wayne A. (Elgin IL). Leak tester. USP1987124715214.
  9. Su,Shyh Haur; Chang,Hong Wen; Lee,Yung Chin; Chen,Chu Wen; Chou,Po Fu; Wu,Chien Tsung; Chen,Chiu Neng. Leakage detection apparatus and method for multi-channel inkjet cartridge. USP2007027182423.
  10. Balke David J. ; Hoffmann Jacques E.. Method and apparatus for detecting leakage. USP2001086279383.
  11. Layton Wilbur T. (San Diego CA) Robinson Dale L. (Escondido CA) Tustaniwskyj Jerry I. (Mission Viejo CA). Method and apparatus for detecting leaks in IC packages by sensing package deflections. USP1990014893499.
  12. Converse ; III Vernon G. (Franklin MI) Bordato James M. (Grosse Pointe Wds. MI) Bott Theodore R. (Berkley MI) Foerster ; Jr. Charles E. (Northville MI) Herbst ; Jr. Desra N. (Spring Valley OH) Mudge . Method and apparatus for electronic leak testing. USP1986054587619.
  13. Lehmann, Martin. Method for testing containers, use of the method, and a testing device. USP2003126662634.
  14. Lewis, Richard H; Gasvoda, Eric L; Puchal, Xavier Gasso; Monclus, Antonio; Barinaga, John A.. Monitoring and controlling ink pressurization in a modular ink delivery system for an inkjet printer. USP2005046874872.
  15. Courian Kenneth J. ; Sabo Thomas M. ; Pietrzyk Joe R. ; Bauer Stephen W.. Particle tolerant printhead. USP2001096286941.
  16. Martone, Christopher James; Doubleday, Daniel W.; Jones, Daniel Gerald; Boor, Paul J.; Sapienza, Raymond J.; Cole, James Arthur; Safran, Joseph E.; Deschutter, Tony J.. Self-contained portable air pressure decay test apparatus. USP2004126826957.
  17. Steinfield Steven W. ; Keefe Brian J. ; Childers Winthrop D. ; Harris Donald G. ; Azmoon Majid. Stable substrate structure for a wide swath nozzle array in a high resolution inkjet printer. USP1999115984464.
  18. Sacca,Giuseppe. System and method for leak detection. USP2007027174772.
  19. Chen-Ching Fan TW. Test device for leakage-proof of a keyboard. USP2002056393896.
  20. Hewlett Kelvin J. R. (Market Harborough GBX). Test stand for a valve. USP1986054587836.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 2

  1. Mielgo, Alejandro; Gomez, Francisco; Bas, Jordi. Drop detection with ribs to align emitters and detectors. USP2017069676183.
  2. Xu, Hua-Min; Xue, Shao-Mei; Yang, Hao. Press mechanism. USP20181010112276.

IPC 상위 출원인