[특허]Head gimbal assembly (HGA) connector pad alignment jig

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G11B-005/48
출원번호	US-0004556 (2007-12-19)
등록번호	US8024853 (2011-09-13)
발명자 / 주소	Rivera, Rudel P.
출원인 / 주소	Hitachi Global Storage Technologies, Netherlands B.V.
인용정보	피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 19

초록

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Von Brandt Kim (Boulder CO) Blakeslee Bruce L. (Golden CO) Keil ; Jr. John (Lakewood CO) Stroud Robert D. (Boulder CO), Apparatus for mounting a magnetic head on a suspension arm.
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Lee, Chung-Shan; Li, Yuan-Chiang; Hsu, Chih-Kai, Circuit board testing jig.
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Karnavas E. C. (6919 Alpha Rd. Dallas TX 75240), Connector socket alignment guide.
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Cram,Daniel P., Contact system for wafer level testing.
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Wiedmann Wolfgang,DEX ; Bernhardt Ralf,DEX ; Lonardoni Ronald,DEX, Coordinate measuring apparatus having a spatially adjustable probe pin.
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Russell Steven Krajec ; John L Bidwell ; William R Miner, Customizable nest for positioning a device under test.
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Yao Wei H. ; Sundaram Ramesh, Glide height testing using a glide head apparatus with a piezoelectric actuator.
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Schadewald ; Jr. Frank W. ; Schaenzer Mark J., Method of connecting heads of a data storage system to a testing apparatus.
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Hernandez,Manuel A.; Fu,Yen; Cha,Ellis T., Micro torque and micro stiffness measurement device.
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Kasajima, Tamon; Shiraishi, Masashi, Precise positioning actuator for head element, head gimbal assembly with the actuator and manufacturing method of head gimbal assembly.
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Boenning Robert A. (Timonium MD) Welden George R. (Cockeysville MD), Probe pin.
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Ickes John M. (Emmett ID), Probe pin alignment tool.
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Wilk, Brian, Probe pin array for socket testing.
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Carl J. Carlson, Read/write head with a gimbal ball assembly.
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Armstrong Ross L. (Meadowpark GBX) Meiklejohn George A. (Bellevue Crescent GBX), Semiconductor chip test jig.
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Buttar,Jagdeep S.; Terrill,David; Davies,Kenneth R.; Ferrier,Herman; Che,Xiaodong, Spin stand testing system with fine positioner for head stack assembly.
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Krause, Rainer Klaus; Maehringer-Kunz, Edgar, System, method, and apparatus for testing a head gimbal assembly.
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Davidson Ryan L. (Santa Cruz CA) Seymour Mark S. (Felton CA), Test jig and method for probing a printed circuit board.
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Vinh Nguyen T., Variable contact pressure probe.
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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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