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Method and apparatus for setting and controlling temperature 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F28F-027/00
출원번호 US-0598989 (2006-11-14)
등록번호 US8025097 (2011-09-13)
발명자 / 주소
  • Di Stefano, Peter T.
  • Di Stefano, Thomas H.
출원인 / 주소
  • Centipede Systems, Inc.
대리인 / 주소
    Michael B., Einschlag
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 32

초록

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대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (32)

  1. Wayburn,Lewis S.; Spearing,Ian G.; Gage,Derek E., Apparatus and method for controlling the temperature of an electronic device.
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  2. Wall,Charles B.; Barnes,Cynthia M., Apparatus and method for controlling the temperature of an electronic device under test.
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  3. DiBattista, Larry; Malinoski, Mark; Shitara, Tomoya, Apparatus and method for temperature control of IC device during test.
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  4. Malinoski, Mark F.; Jones, Thomas P.; Annis, Brian; Turner, Jonathan E., Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electric devices.
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  5. Mark F. Malinoski ; Thomas P. Jones ; Brian Annis ; Jonathan E. Turner, Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electric devices.
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  6. Mark F. Malinoski ; Thomas P. Jones ; Brian Annis ; Jonathan E. Turner, Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electronic device.
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  7. Hashinaga Tatsuya (Yokohama JPX) Nishiguchi Masanori (Yokohama JPX), Burn-in apparatus and method for self-heating semiconductor devices having built-in temperature sensors.
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  8. Umezawa Kazuhiko (Tokyo JPX), Cooling unit.
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  9. Neeb James Edward, Directed self-heating for reduction of system test time.
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  10. Maesaki,Yoshihiro; Teshigawara,Hiroshi, Dynamic burn-in equipment.
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  11. Werner,Douglas; Munch,Mark; Kenny,Thomas, Hermetic closed loop fluid system.
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  12. Kurosu Osamu,JPX ; Kawaguchi Kazuhiro,JPX, IC device temperature control system and IC device inspection apparatus incorporating the same.
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  13. Upadhya,Girish; Kenny,Thomas W.; Zhou,Peng; Munch,Mark; Shook,James Gill; Goodson,Kenneth; Corbin,David, Interwoven manifolds for pressure drop reduction in microchannel heat exchangers.
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  14. Needham, Wayne M., Method and apparatus for controlling the power and heat output in a device testing system.
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  15. Burward-Hoy Trevor, Method and apparatus for rapidly varying the operating temperature of a semiconductor device in a testing environment.
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  16. Jean Luc Pelissier ; Thomas P. Jones ; Jonathan E. Turner ; Mark F. Malinoski, Method and apparatus for temperature control of a device during testing.
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  17. Gaasch, Thomas Francis; Trieu, Thanh, Method for controlling the temperature of an electronic component under test.
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  18. Babcock,James Wittman; Tustaniwskyj,Jerry Ihor; Morange,Blanquita Ortega; Wing,Lorraine Lo Lan, Method of extending the operational period of a heat-exchanger in a chip tester.
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  19. Gold Calman, Methods and apparatus for cooling systems for cryogenic power conversion electronics.
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  20. Beehler James R. (Osceola IN) Ware Dean R. (Niles MI), Refrigeration system.
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  21. Lutz, Robert C.; Dickson, Lloyd B.; Eddington, Ralph James, Semiconductor wafer electrical testing with a mobile chiller plate for rapid and precise test temperature control.
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  22. Umezawa Kazuhiko (Tokyo JPX), Structure for temperature detection in a package.
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  23. Jerry Ihor Tustaniwskyj ; James Wittman Babcock, System for regulating the temperature of IC-chips with a fluid whose temperature is controlled quickly by a slow response cooler and a fast response heater.
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  24. Gaasch, Thomas Francis; Trieu, Thanh, Temperature control device for an electronic component.
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  25. Thomas P. Jones ; Jonathan E. Turner ; Mark F. Malinoski, Temperature control of electronic devices using power following feedback.
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  26. Cardella Mark A., Temperature control system for electronic devices.
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  27. Hamilton Harold E. ; Tremmel Tom A., Temperature controlled high power burn-in board heat sinks.
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  28. Nakagomi Yoichi,JPX ; Furuya Kunihiro,JPX ; Tsukada Hiroshi,JPX, Temperature managing apparatus for multi-stage container.
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  29. Brown Candice H. (San Jose CA), Test fixture capable of electrically testing an integrated circuit die having a planar array of contacts.
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  30. Fukasawa, Yoshihito; Maiwa, Hisaaki, Test handler for semiconductor device.
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  31. Feder, Jan; Beyerle, Rick; Byers, Stephen; Jones, Thomas, Thermal control of a DUT using a thermal control substrate.
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  32. Feder,Jan; Beyerle,Rick; Byers,Stephen; Jones,Thomas, Thermal control of a DUT using a thermal control substrate.
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이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Di Stefano, Thomas H., Apparatus to control device temperature utilizing multiple thermal paths.
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  2. Di Stefano, Thomas H., Apparatus to control device temperature utilizing multiple thermal paths.
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  3. Sasaki, Yasuharu, Cooling system, substrate processing apparatus having cooling system and cooling method.
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  4. Di Stefano, Thomas H., Method and apparatus for controlling temperature.
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  5. Tani, Tony Mitsuaki; Stuckey, Larry Ray, Thermal controller for electronic devices.
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