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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0224374 (2005-09-12) |
등록번호 | US8052794 (2011-10-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 34 |
A method for locally controlling the stoichiometry of an epitaxially deposited layer on a semiconductor substrate is provided. The method includes directing a first reactant gas and a doping gas across a top surface of a semiconductor substrate and directing a drive gas and a second reactant gas aga
The invention claimed is: 1. A method for forming uniformly-doped epitaxial layers on a substrate, the method comprising:positioning a substrate on a top surface of a satellite in a reactor for epitaxial deposition, the satellite being positioned such that at least a first drive gas channel through
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