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System for preventing backflow in an ion source 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-049/26
출원번호 US-0565598 (2009-09-23)
등록번호 US8058611 (2011-11-01)
발명자 / 주소
  • Wouters, Eloy R.
  • Mullen, Christopher
  • Splendore, Maurizio A.
  • Atherton, R. Paul
출원인 / 주소
  • Thermo Finnigan LLC
대리인 / 주소
    Michael C., Staggs
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 6

초록

A system for preventing backflow as part of an ion source arrangement is introduced. Such a system incorporates a novel continuous flow guide within a source, such as an API ion source. In the spray direction, the cross-sectional area that defines the first portion of the internal volume initially d

대표청구항

The invention claimed is: 1. A system for preventing backflow in an ion source, comprising:a housing chamber;a continuous flow guide configured within said housing chamber, wherein said continuous flow guide comprises a converging first volume and a diverging second volume coupled at a minimal cross

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Scheidemann,Adi; Hess,Henry, Analytical instruments using a pseudorandom array of sources, such as a micro-machined mass spectrometer or monochromator.
  2. Thakur,Rohan A., Electrospray ion source apparatus.
  3. Thakur,Rohan A., Exhaust port design for API sources.
  4. Covey Thomas R. (Richmond Hill CAX) Anacleto Joseph F. (Brampton CAX), Ion spray with intersecting flow.
  5. Franzen,Jochen, Ionization by droplet impact.
  6. Covey, Thomas R.; Jong, Raymond; Javaheri, Hassan, Method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Yang, Zicheng; Moeller, Roy P; Zanon, Stephen, Atmospheric pressure ion source with exhaust system.
  2. Jarrell, Joseph A.; Tomany, Michael, Devices and methods for performing mass analysis.
  3. Finlay, Alan; Ganapathisubramani, Bharathram; Moseley, Richard William; Edwards, Peter; Lipson, Ariel, Mass spectrometer system.
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