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Frequency-based, active monitoring of reliability of a digital system

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04B-003/46
  • H04B-017/00
  • H04Q-001/20
출원번호 US-0733318 (2007-04-10)
등록번호 US-8094706 (2012-01-10)
발명자 / 주소
  • Kim, Dae Ik
  • Kim, Jonghae
  • Kim, Moon Ju
  • Moulic, James R.
  • Song, Hong Hua
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Schiesser, William E.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 13

초록

Method, system and article of manufacture are provided for continually monitoring reliability, or aging, of a digital system and for issuing a warning signal if digital system operation degrades to or past a specified threshold. The technique includes periodically determining a maximum frequency of

대표청구항

1. A method of monitoring reliability of a digital system with operational aging thereof, the method comprising: periodically measuring in situ, by the digital system, a current maximum frequency of operation of the digital system to monitor degradation in maximum frequency of operation of the digit

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Kaneko Kazuo (Kawasaki JPX) Katayama Masayasu (Yokohama JPX) Kochi Kiyoshi (Sagamihara JPX), Burn-in and test method of semiconductor wafers and burn-in boards for use in semiconductor wafer burn-in tests.
  2. Yoshida Makoto (Tanashi JPX) Watanabe Shinichi (Tanashi JPX) Suzuki Fuminori (Tanashi JPX), Electronic timepiece.
  3. Seki Hideo,JPX, Method of measuring electrical characteristics of semiconductor circuit in wafer state and semiconductor device for the.
  4. Seki Hideo,JPX, Method of measuring electrical characteristics of semiconductor circuit in wafer state and semiconductor device for the same.
  5. Snyder Eric S. (Albuquerque NM) Campbell David V. (Albuquerque NM), On-clip high frequency reliability and failure test structures.
  6. Heaney Brad (Mountain View CA) Hou Andy (Cupertino CA), Processor static mode disable circuit.
  7. Zale Lawrence Paul ; Sanborn Stephen Duane, Remote lifecycle monitoring of electronic boards/software routines.
  8. McKnight, Gregory Joseph, Rules-based method of and system for optimizing server hardware capacity and performance.
  9. Bilak, Mark R.; Forbes, Joseph M.; Guenther, Curt; Maloney, Michael J.; Maurice, Michael D.; O'Gorman, Timothy J.; Parent, Regis D.; Zimmerman, Jeffrey S., Statistical guardband methodology.
  10. Isao Shimizu JP; Masayuki Sato JP; Hiroshi Fukiage JP, Test system and manufacturing of semiconductor device.
  11. Shimizu, Isao; Sato, Masayuki; Fukiage, Hiroshi, Test system and manufacturing of semiconductor device.
  12. Singh,Suraj, Timing error detection for a digital receiver.
  13. Salter Eric Johan ; Nahas Joseph John ; Martino ; Jr. William Luther, Voltage regulator with automatic accelerated aging circuit.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Shapira, Dorit; Sistla, Krishnakanth V.; Rotem, Efraim; Shulman, Nadav; Zobel, Shmulik; Chu, Allen, Apparatus and method for controlling the reliability stress rate on a processor.
  2. Crandall, Adam, Method for synchronizing sampling to sinusoidal inputs.
  3. Ishimi, Koichi, Semiconductor device.
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