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Apparatus and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01F-023/00
출원번호 US-0526799 (2002-08-21)
등록번호 US-8097857 (2012-01-17)
국제출원번호 PCT/US02/95385 (2002-08-21)
§371/§102 date 20051223 (20051223)
국제공개번호 WO02/095382 (2002-11-28)
발명자 / 주소
  • Cochran, Don W.
  • Cech, Steven D.
출원인 / 주소
  • Pressco Technology Inc.
대리인 / 주소
    Fay Sharpe LLP
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 23

초록

This application relates to an apparatus and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications. More specifically, it pertains to the use of snapshot mode lead salt area-array imaging sensors (20) as the imaging front-end i

대표청구항

1. A system for providing snapshot action thermal imaging within a high speed automated process control article inspection environment comprising: a lead salt-based thermal infrared imager configured to support snapshot-mode image acquisition in the high speed environment;an image acquisition zone c

이 특허에 인용된 특허 (23)

  1. Yaktine Darrel L. (Overland Park KS) Jones Virgil F. (Lenexa KS), Apparatus for detecting abnormally high temperature conditions in the wheels and bearings of moving railroad cars.
  2. Wood R. Andrew (Bloomington MN), Camera for producing video output signal, infrared focal plane array package for such camera, and method and apparatus f.
  3. Daniel J. Kenway CA, Defect detection in articles using computer modelled dissipation correction differential time delayed far IR scanning.
  4. Borre Bengt Ulrichsen NO; Clas Fredrik Mender NO; Geir Foss-Pedersen NO; Jon Henrik Tschudi NO; Ib-Rune Johansen NO, Determination of characteristics of material.
  5. Yonemoto Kazuya (Kanagawa JPX) Kagawa Yoshiaki (Kanagawa JPX) Ishikawa Kikue (Kanagawa JPX) Suzuki Tomoyuki (Kanagawa JPX) Hamasaki Masaharu (Kanagawa JPX), Electronic shutter for a CCD image sensor.
  6. Fazzari Rodney J. ; Hebel Richard J. ; Skorina Frank K., High speed mass flow food sorting apparatus for optically inspecting and sorting bulk food products.
  7. Triner James E. ; Cech Steven D., High-density solid-state lighting array for machine vision applications.
  8. Robbins John A. (North Hollywood CA), High-intensity light source for a fiber optics illumination system.
  9. Woodall Jerry MacPherson ; Kornegay Kevin Tyrone ; Spencer Michael Gregg, Incandescent light energy conversion with reduced infrared emission.
  10. Hornbeck Larry J. (Van Alstyne TX), Infrared detector.
  11. Nielson Paul C. (N. Andover MA) Kaufman Wolfgang (Northampton MA), Machine visual inspection device and method.
  12. Leavens William M. (Seattle WA) Zentner Ronald C. (Bellevue WA) Stonecipher Charles H. (Boston MA), Method and apparatus for nondestructive analysis of subsurface features of material.
  13. Barrett John R. (Wayland MA), Method of fabricating a PbS-PbSe IR detector array.
  14. Shepard Steven M. (23656 Hunter\s La. Southfield MI 48034), Method of interpreting thermographic data for non-destructive evaluation.
  15. Lung Gerald (Los Angeles CA), Microbolometer unit cell signal processing circuit.
  16. Cole Barrett E. (Bloomington MN), Microstructure design for high IR sensitivity.
  17. Ringermacher Harry I. ; Archacki ; Jr. Raymond J. ; Veronesi William A., Nondestructive testing: transient depth thermography.
  18. Amir Israel ; Billingham Kenneth Henry ; Fitch Dennis J. ; Higgins Frank P. ; Krainaker Frank Joseph ; Macdonald John Burnet, Optical probe for scanning surfaces within constricted spaces.
  19. Barrett John R. (Wayland MA), PbS-PbSe IR detector arrays.
  20. Crall Richart F. (Tualatin OR), Portable infrared imaging apparatus.
  21. Watkins Michael, Process control by transient thermography.
  22. Cochran Don W. (Highland Heights OH) Austin James R. (Mentor-on-the-Lake OH), Pulsed-array video inspection lighting system.
  23. Carson John C. (Corona del Mar CA) Clark Stewart A. (Irvine CA), Thermal imager incorporating electronics module having focal plane sensor mosaic.

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. Stuart, Michael D.; Bernet, John C., Imaging tool for vibration and/or misalignment analysis.
  2. Sloat, Jeffrey T.; Abbott, Paul; Middleton, Scott W.; Schneider, Lee M.; Resurreccion, Jr., Fermin P., Method and apparatus for identifying defects in susceptors of microwave food containers.
  3. Nakagawa, Junichi; Ito, Tadayuki; Nishiyama, Tetsuo; Doki, Masahiro; Saito, Kozo; Gharaibeh, Belal; Chuah, Keng Hoo; Salaimeh, Ahmad; Yamamoto, Masahiro; Takeuchi, Tomoya; Ito, Kazufumi; Huang, Huaxiong; Bohun, Sean C., Method for detecting defect in material and system for the method.
  4. Burgard, Daniel, Wireless temperature profiling system.
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