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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0114918 (2008-05-05) |
등록번호 | US-8122333 (2012-02-21) |
우선권정보 | KR-10-2007-0043211 (2007-05-03); KR-10-2007-0053009 (2007-05-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 8 |
Provided are a method of detecting and isolating fault in sensors and a method of accommodating fault in sensors using the same. In the method of detecting and isolating fault in sensors, a one reduced-order parity vector is obtained by excluding the output of one sensor selected from n sensors, a t
1. A method of accommodating fault in sensors, the method comprising: detecting fault in sensors which are each independently geometrically configured;when it is determined there are faulty sensors, isolating faulty sensors so that the location of the faulty sensors is identified; anddetermining sen
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