$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Imaging system with relaxed assembly tolerances and associated methods 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-005/222
  • H04N-005/225
출원번호 US-0213473 (2008-06-19)
등록번호 US-8159602 (2012-04-17)
발명자 / 주소
  • Shabtay, Gal
  • Goldenberg, Efraim
출원인 / 주소
  • DigitalOptics Corporation Europe Limited
대리인 / 주소
    Lee & Morse, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 13

초록

An imaging system includes an extended depth of field (EDOF) optical system, a sensor on a sensor substrate, and a securing mechanism adapted to secure the EDOF optical system directly to the sensor substrate.

대표청구항

1. An imaging system, comprising: an extended depth of field (EDOF) optical system, wherein the EDOF optical system is a single element including a phase element adapted to provide a more uniform modulation transfer function over a range of focus than the optical system alone, wherein an effective f

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Mieher, Walter D.; Levy, Ady; Golovanesky, Boris; Friedmann, Michael; Smith, Ian; Adel, Michael E.; Fabrikant, Anatoly, Apparatus and methods for detecting overlay errors using scatterometry.
  2. Chang, Jen-Tsorng, Apparatus for increasing field of view of an optical system.
  3. Yahil,Amos; Puetter,Richard, High speed signal enhancement using pixons.
  4. Beaman Bryan A. ; Gerstenberger Julie K. ; Orlicki David M., Imager package substrate.
  5. Wu, Cheng-Shiun, Lens module.
  6. Ikeda Shigeo,JPX, Light receiving device having lens fitting element.
  7. Dowski, Jr.,Edward Raymond, Mechanically-adjustable optical phase filters for modifying depth of field, aberration-tolerance, anti-aliasing in optical systems.
  8. Millerd,James E.; Brock,Neal J., Methods and apparatus for splitting, imaging, and measuring wavefronts in interferometry.
  9. Zalevsky,Zeev, Optical method and system for extended depth of focus.
  10. Gallup, Kendra; Baugh, Brenton A.; Wilson, Robert E.; Matthews, James A.; Williams, James H., Optical receiver package.
  11. Dowski, Jr., Edward Raymond, Optical systems utilizing multiple phase filters to increase misfocus tolerance.
  12. Rostoker Michael D., Photo-sensitive semiconductor integrated circuit substrate and systems containing the same.
  13. Dowski, Jr., Edward Raymond; Prischepa, Inga, Wavefront coding zoom lens imaging systems.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로