$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Measuring device for determining the relative offset between two components 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/30
출원번호 US-0800893 (2007-05-07)
등록번호 US-8159681 (2012-04-17)
우선권정보 DE-10 2006 021 338 (2006-05-05); DE-10 2007 019 592 (2007-04-24)
발명자 / 주소
  • Bock, Gerhard
  • Hermann, Michael
  • Holzapfel, Wolfgang
  • Saendig, Karsten
  • Trautner, Johannes
출원인 / 주소
  • Dr. Johannes Heidenhain GmbH
대리인 / 주소
    Kenyon & Kenyon LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 10

초록

A measuring device for determining the relative offset between two components in a z-direction includes two measuring members. A first measuring member is affixable on a first component, and the second measuring member is affixable on a second component. Furthermore, the measuring device includes a

대표청구항

1. A measuring device for determining a relative offset between two components in a z-direction, comprising: a first measurement member affixable on a first component at a rigid angle and to transmit movements of the first component, having a directional component parallel to the z-direction, from t

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Bruns Donald G., Electromagnetically controlled deformable mirror.
  2. Murray ; Jr. Malcolm G. (220 E. Texas Ave. Baytown TX 77520), Laser alignment mount assembly and method.
  3. Herkt,Peter; B철ge,Ludwig, Length sensor.
  4. Haas Franz,ATX, Measuring arrangement and method for checking the geometric and dynamic accuracy of two machine elements displaceable wi.
  5. Kobashi Takashi (Utsunomiya JPX), Measuring instrument with digital display.
  6. Graff,Timothy E., Method and apparatus for enabling optical communication through low intensity indicators in an appliance that uses a vacuum fluorescent display.
  7. Turner,Brian John; Hall,Timothy David, Optical alignment device for machine tool.
  8. Henshaw James R. (Stroud GBX) Holden Peter G. (Cirencester GBX) Howley Colin K. (Stonehouse GBX), Opto-electronic scale reading apparatus having an array of elongate photo-sensitive elements and a periodic light patter.
  9. McMurtry David R. (Wotton-under-Edge GB2), Probe for use in measuring apparatus.
  10. Zanier Adriano (Prilly CHX), Sensor for devices for measuring comparative linear magnitudes.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Lin, Yu-Te; Wang, Chih-Yung; Liu, Yu-Chen; Lin, Yi-Lung; Chien, Hung-Wen, Monitoring system.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로