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Cleaning compositions for microelectronic substrates 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • C11D-007/26
  • C11D-007/32
  • C11D-007/50
출원번호 US-0630603 (2005-06-23)
등록번호 US-8178482 (2012-05-15)
국제출원번호 PCT/US2005/022598 (2005-06-23)
§371/§102 date 20061220 (20061220)
국제공개번호 WO2006/023061 (2006-03-02)
발명자 / 주소
  • Kane, Sean M.
출원인 / 주소
  • Avantor Performance Materials, Inc.
대리인 / 주소
    Hoffmann & Baron, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 20

초록

A stripping and cleaning composition for cleaning microelectronics substrates, the composition comprising: at least one organic stripping solvent, at least one nucleophilic amine, at least one non-nitrogen containing weak acid in an amount sufficient to neutralize from about 3% to about 75% by weigh

대표청구항

1. A stripping and cleaning composition for cleaning microelectronics substrates, the composition consisting of: about 20 to about 80 wt % of the composition of N-methyl pyrrolidone, monoethanolamine in an amount of from about 10% to about 45% based on the weight of the composition, from about 5% to

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. Aoki, Hidemitsu; Koito, Tatsuya; Nakabeppu, Kenichi, Anticorrosive agent.
  2. Deepak Mahulikar, Chemical mechanical polishing slurry system having an activator solution.
  3. Leon Vincent G. ; Honda Kenji ; Rothgery Eugene F., Cleaning composition and method for removing residues.
  4. Lee Wai Mun ; Pittman ; Jr. Charles U. ; Small Robert J., Cleaning solutions including nucleophilic amine compound having reduction and oxidation potentials.
  5. Skee David C. ; Schwartzkopf George, Cleaning wafer substrates of metal contamination while maintaining wafer smoothness.
  6. Leon Vincent G. ; Honda Kenji ; Rothgery Eugene F., Method for removing photoresist and plasma etch residues.
  7. Honda Kenji ; Rothgery Eugene F., Non-corrosive cleaning composition for removing plasma etching residues.
  8. Honda Kenji (Barrington RI) Perry Donald F. (North Providence RI) Maw Taishih (Cumberland RI), Non-corrosive photoresist stripper composition.
  9. Honda Kenji ; Molin Richard M. ; Hansen Gale L., Non-corrosive stripping and cleaning composition.
  10. Honda Kenji ; Molin Richard Mark ; Hansen Gale Lynne, Non-corrosive stripping and cleaning composition.
  11. Kenji Honda ; Richard Mark Molin ; Gale Lynne Hansen, Non-corrosive stripping and cleaning composition.
  12. Tanabe Masahito,JPX ; Wakiya Kazumasa,JPX ; Kobayashi Masakazu,JPX ; Nakayama Toshimasa,JPX, Photoresist stripping liquid compositions and a method of stripping photoresists using the same.
  13. Wakiya, Kazumasa; Kobayashi, Masakazu, Photoresist stripping solution and a method of stripping photoresists with the same.
  14. Small, Robert J., Post clean treatment.
  15. Lee Wai Mun, Process using hydroxylamine-gallic acid composition.
  16. Anthony Mark Pasqualoni ; Deepak Mahulikar, Ready-to-use stable chemical-mechanical polishing slurries.
  17. Honda Kenji (Barrington RI) Hurditch Rodney (Providence RI), Redox reagent-containing post-etch residue cleaning composition.
  18. Sahbari, Javad J., Stripper.
  19. Chu John Cheung-Shing, Stripper pretreatment.
  20. John Cheung-Shing Chu, Stripper pretreatment.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Inaoka, Seiji, Gluconic acid containing photoresist cleaning composition for multi-metal device processing.
  2. Hsu, Chien-Pin S.; Westwood, Glenn; Gemmill, William R., Multipurpose acidic, organic solvent based microelectronic cleaning composition.
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