최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0574096 (2009-10-06) |
등록번호 | US-8192077 (2012-06-05) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 31 |
A method for measuring the differential emissivity between two sites on the surface of a body and the temperature of the two sites. The method includes a plurality of measurements of the infrared radiation arising from each of the two sites under a number of different conditions. Some of the measure
1. A method of measuring the in situ differential emissivity between two sites on a surface of an object, comprising: detecting infrared radiation arising at a first wavelength from a first site on a surface of a body when not irradiated by external infrared radiation;detecting infrared radiation ar
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.