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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0645727 (2009-12-23) |
등록번호 | US-8210744 (2012-07-03) |
우선권정보 | KR-10-2005-0107049 (2005-11-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 24 |
An apparatus for detecting a temperature using transistors includes a plurality of temperature detecting units that become selectively active according to predetermined temperature intervals; and a detection signal output unit that generates detection signals according to the signals transmitted by
1. An apparatus for detecting temperature, comprising: a plurality of temperature detecting units configured to be activated according to predetermined temperature intervals; anda detection signal output unit that generates detection signals according to the signals transmitted by the plurality of t
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