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Method and system for the automated testing and/or measuring of a plurality of substantially identical components using X-ray radiation

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/083
  • H05G-001/02
  • A61B-006/03
출원번호 US-0842652 (2010-07-23)
등록번호 US-8351567 (2013-01-08)
우선권정보 EP-09009615 (2009-07-24)
발명자 / 주소
  • Wuestenbecker, Michael
  • Stuke, Ingo
출원인 / 주소
  • GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
대리인 / 주소
    Saliwanchik, Lloyd & Eisenschenk
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 17

초록

A method and system for automated testing and/or measurement of a plurality of substantially identical components by means of X-ray radiation comprises a testing/measuring device with an X-ray device, a protection cabin surrounding the testing/measuring device, a conveying device for continuously co

대표청구항

1. A system for automated testing and/or measurement of a plurality of substantially identical components via X-ray radiation, comprising: a testing/measuring device with an X-ray device, wherein the X-ray device comprises an X-ray source for generating X-rays and an X-ray detector for detecting X-r

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Garms,Walter; Landolfi,Pierfrancesco, Apparatus and method for controlling start and stop operations of a computed tomography imaging system.
  2. Gatten,Ronald A., Apparatus and method for providing a shielding means for an X-ray detection system.
  3. Tybinkowski,Andrew P.; Swain,Ronald; Williams,Robert; Svencer,Nicholas, Carry-on baggage tomography scanning system.
  4. Tybinkowski Andrew P. ; Duffy Michael J. ; McKenna Gilbert W., Computed tomography scanner drive system and bearing.
  5. Anwar,Aijaz; Bromell,Thomas, Container inspection system.
  6. Perry John L. ; Gamble Thomas D., Continuous high speed tomographic imaging system and method.
  7. Distler,Friedrich; Gnutzmann,Tobias; Krug,Rita, Gantry for a computed tomography apparatus.
  8. Burke James E. (Villa Park IL) Zupancic Anton Z. (Kirtland OH) Miller Thomas R. (St. Charles IL) McNally Patrick P. (Geneva IL), Heat transfer techniques for moving thermal energy from high power X-ray tubes on rotating CT gantries to a remote locat.
  9. Bhatt,Ashwinkumar C.; Calmidi,Varaprasad V.; McNamara, Jr.,James J.; Sathe,Sanjeev, Imaging inspection apparatus with directional cooling.
  10. Seufert, Matthias, Imaging medical examination apparatus having a bearing mechanism.
  11. Edic, Peter Michael; Vermilyea, Mark E.; Hopkins, Forrest Frank; Harding, Geoffrey; Landolfi, Pierfrancesco, Integrated multi-sensor systems for and methods of explosives detection.
  12. Hiraoglu Muzaffer ; Bechwati Ibrahim M. ; Simanovsky Sergey ; Crawford Carl R., Multiple-stage apparatus and method for detecting objects in computed tomography data.
  13. Gerhard Fenkart CH; Fran.cedilla.ois A. Mesqui ; David E. Kresse ; William H. Baylis, Nonintrusive inspection system.
  14. Johnson,Tait; Sykes,Bradley; Gatten,Ronald A., Security scanner with bin return device.
  15. Hopkins,Forrest Frank; Edic,Peter Michael; Basu,Samit Kumar; De Man,Bruno; Leblanc,James Walter; Wu,Xiaoye; Walter,Deborah Joy; Ross,William Robert; Wilson,Colin Richard; Avila,Ricardo Scott; Kaucic, Jr.,Robert August, System and method for detecting an object.
  16. Takamatsu, Tomonao; Hattori, Hitoshi; Iwasaki, Hideo; Fukushima, Harunobu; Hosaka, Rika; Jimbo, Tomohiko; Sadotomo, Tetsuya; Harada, Tomokazu; Ota, Satoshi; Nakano, Makoto; Shindo, Yasutaka; Gotanda, Katsumi, X-ray computed tomographic apparatus.
  17. Banchieri, Andrew J.; Kresse, David E., X-ray technique-based nonintrusive inspection apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Baker, Andrew N.; Fourney, Matthew L., Checkpoint system with wheeled bins.
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