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Method for estimation of image defocus and defocus restoration

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-001/40
출원번호 US-0536967 (2009-08-06)
등록번호 US-8368964 (2013-02-05)
발명자 / 주소
  • Xu, Beilei
  • Loce, Robert Paul
  • Liu, Chu-Heng
  • Lin, Ying-wei
출원인 / 주소
  • Xerox Corporation
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 4

초록

A method for determining local defocus distance in a scanned image of a non-planar original object is provided comprising scanning at least a portion of the non-planar original object to produce first scanned image data at a first focal plane and scanning same the at least a portion of the non-plana

대표청구항

1. A method of determining local defocus distance in a scanned image of a non-planar original object, said method comprising: scanning at least a portion of the non-planar original object to produce first scanned image data at a first focal plane;scanning same said at least a portion of the non-plan

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Xu, Beilei; Loce, Robert P., Adaptive illumination correction of scanned images.
  2. Komiya Yasuhiro (Tokyo JPX) Nagasaki Tatsuo (Yokohama JPX), Automatic focusing apparatus.
  3. Xu, Beilei; Loce, Robert P., Estimation of local defocus distance and geometric distortion based on scanned image features.
  4. Loce,Robert P.; Xu,Beilei; Repko,Jason, Method and system for reducing distortion in scanned images.

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Li, Pingshan; Wei, Jianing, Defocus estimation from single image based on Laplacian of Gaussian approximation.
  2. Richards, William L.; Ashby, Austin; Ketterer, Matthew; Marshall, Kevin; Harrison, Josh; Mette, Matthew; Richards, Paul; Showalter, Wayne; Cote, Jasmin; Halbert, Phillip C.; Bourgeois, Solene; Metzger, Steven W.; Hance, Ken; Mensack, Meghan; Michel, Carlos; Allers, Elke; Gamage, Dulini; Prisbrey, Landon; Gusyatin, Oleg; Shamsheyeva, Alena; Turng, Ben; Ghusson, Andrew; Reinhardt, Kurt, Instrument and system for rapid microogranism identification and antimicrobial agent susceptibility testing.
  3. Richards, William L.; Ashby, Austin; Ketterer, Matthew; Marshall, Kevin; Harrison, Josh; Mette, Matthew; Richards, Paul; Showalter, Wayne; Cote, Jasmin; Halbert, Phillip C.; Bourgeois, Solene; Metzger, Steven W.; Hance, Ken; Mensack, Meghan; Michel, Carlos; Allers, Elke; Gamage, Dulini; Prisbrey, Landon; Gusyatin, Oleg; Shamsheyeva, Alena; Turng, Ben; Ghusson, Andrew; Reinhardt, Kurt, Instrument and system for rapid microorganism identification and antimicrobial agent susceptibility testing.
  4. Prisbrey, Landon; Blackmore, Elise; Hance, Kenneth R.; Metzger, Steven W.; Marshall, Kevin, Membrane-assisted purification.
  5. Juhasz, John C., Method for using an optical sensor array to monitor color fidelity in objects produced by a three-dimensional object printer.
  6. Thresh, Donald E.; VanBortel, James D.; Soures, Michael N.; Gruszewski, Richard B., Method for using multiple optical sensor arrays to measure features on objects produced in a three-dimensional object printer.
  7. Mantell, David A.; Craig, David C.; Hunter, Jonathan B.; Proctor, Douglas E., Method for using optical sensor focus to identify feature heights on objects being produced in a three-dimensional object printer.
  8. Metzger, Steven W.; Hance, Kenneth Robert, Rapid cell purification systems.
  9. Metzger, Steven W.; Hance, Kenneth Robert, Rapid cell purification systems.
  10. Metzger, Steven W.; Hance, Kenneth Robert, Rapid cell purification systems.
  11. Shamsheyeva, Alena; Howson, David C.; Metzger, Steven W., Rapid determination of microbial growth and antimicrobial susceptibility.
  12. Metzger, Steven W.; Howson, David C.; Goldberg, David A.; Buttry, Daniel A., Rapid microbial detection and antimicrobial susceptibility testing.
  13. Goldberg, David A.; Howson, David C.; Metzger, Steven W.; Buttry, Daniel A.; Saavedra, Steven Scott, Sensitive and rapid determination of antimicrobial susceptibility.
  14. Juhasz, John C., System for using an optical sensor array to monitor color fidelity in objects produced by a three-dimensional object printer.
  15. Thresh, Donald E.; VanBortel, James D.; Soures, Michael N.; Gruszewski, Richard B., System for using multiple optical sensor arrays to measure features on objects produced in a three-dimensional object printer.
  16. Mantell, David A.; Craig, David C.; Hunter, Jonathan B.; Proctor, Douglas E., System for using optical sensor focus to identify feature heights on objects being produced in a three-dimensional object printer.
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