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Integrated circuit and a method for secure testing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04L-009/00
  • H04K-001/00
  • G06F-021/00
출원번호 US-0719883 (2004-11-22)
등록번호 US-8379861 (2013-02-19)
국제출원번호 PCT/EP2004/014804 (2004-11-22)
§371/§102 date 20090518 (20090518)
국제공개번호 WO2006/053586 (2006-05-26)
발명자 / 주소
  • Akselrod, Dimitri
  • Amon, Yossi
  • Ashkenazi, Asaf
출원인 / 주소
  • Freescale Semiconductor, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 9

초록

An integrated circuit that includes a controller and multiple internal circuitries, whereas the integrated circuit is characterized by further including a security mode determination unit that includes multiple one time programmable components for defining a security mode out of multiple possible se

대표청구항

1. An integrated circuit comprising: a controller;multiple internal circuitries;an internal key comparison device; anda security mode determination device that comprises multiple one time programmable components for defining a security mode out of multiple possible security modes, whereas the select

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Bianco Mark E. (Pomona CA) Dwyer Douglas A. (Brea CA) Knobbe David J. (Brea CA) Baukus James P. (Westlake Village CA) Kramer Allan R. (Simi Valley CA) Ozdemir Faik S. (Thousand Oaks CA), Apparatus and method for sensitive circuit protection with set-scan testing.
  2. Tailliet Fran.cedilla.ois Pierre,FRX, Device to check the end of a test.
  3. Yishay Oded (Austin TX) LaViolette William P. (Austin TX) Pechonis Daniel W. (Austin TX), Mask programmable security system for a data processor and method therefor.
  4. Tkacik, Thomas; Spittal, Jr., John E.; Lutz, Jonathan; Case, Lawrence; Hardy, Douglas; Redman, Mark; Schmidt, Gregory; Tugenberg, Steven; Fitzsimmons, Michael D.; Carder, Darrell L., Method and apparatus for secure scan testing.
  5. Tkacik,Thomas; Spittal, Jr.,John E.; Lutz,Jonathan; Case,Lawrence; Hardy,Douglas; Redman,Mark; Schmidt,Gregory; Tugeberg,Steven; Fitzsimmons,Michael D.; Carder,Darrell L., Method and apparatus for secure scan testing.
  6. Easter Randall J. (Duchess County NY) Spano Vincent A. (Duchess County NY) Zajac Myron W. (Duchess County NY) Campbell John E. (Duchess County NY), Methods and apparatus for secure hardware configuration.
  7. Ducharme,Paul, Monolithic semiconductor device for preventing external access to an encryption key.
  8. Apland James M. ; Eaton David D. ; Chan Andrew K., Security antifuse that prevents readout of some but not other information from a programmed field programmable gate arr.
  9. Ginter Karl L. ; Shear Victor H. ; Sibert W. Olin ; Spahn Francis J. ; Van Wie David M., Systems and methods for secure transaction management and electronic rights protection.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Lee, Sang-Woo, Semiconductor apparatus and method of operating the same.
  2. Grawrock, David W.; Kompalli, Sarat, Technologies for protected hardware function monitoring and forensics.
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